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TCAS系统元件级深度维修测试设备研发
被引量:
3
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作者
王力
《微计算机信息》
北大核心
2007年第05S期234-235,246,共3页
目前TCAS处理器测试系统可以进行板卡级测试,不能进行元件级的深度测试与维修。本文分析对TCAS系统故障板卡的元件级深度测试和维修,实现对TCAS系统主要板卡的元件级故障测试、定位与维修,测试系统经调试与运行,效果良好。
关键词
tcas
元件级测试修理
测试系统
航空电子系统
下载PDF
职称材料
题名
TCAS系统元件级深度维修测试设备研发
被引量:
3
1
作者
王力
机构
中国民用航空学院机电工程学院
出处
《微计算机信息》
北大核心
2007年第05S期234-235,246,共3页
基金
中国民用航空总局科技基金资助项目(MY0421810)
文摘
目前TCAS处理器测试系统可以进行板卡级测试,不能进行元件级的深度测试与维修。本文分析对TCAS系统故障板卡的元件级深度测试和维修,实现对TCAS系统主要板卡的元件级故障测试、定位与维修,测试系统经调试与运行,效果良好。
关键词
tcas
元件级测试修理
测试系统
航空电子系统
Keywords
tcas
,
component maintain
,
test equipment
,
avionics systems
分类号
TP273 [自动化与计算机技术—检测技术与自动化装置]
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作者
出处
发文年
被引量
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1
TCAS系统元件级深度维修测试设备研发
王力
《微计算机信息》
北大核心
2007
3
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参考文献
引证文献
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