TDI CCD光谱响应曲线测量技术研究

光谱响应曲线是探测器的重要技术参数之一,随着探测技术的发展,精确测量探测器的光谱响应曲线变得越来越重要.为了解决TDI CCD光谱响应曲线检测精度较低、检测方法不够准确等问题,提出了一套科学而准确的高精度TDI CCD光谱响应曲线检测方法.分析了TDI CCD光谱响应曲线的测量原理,采用了直接比较法测定待测TDI CCD的光谱响应曲线,基于具有稳定性高、优异响应能力的LED组,建立了光谱响应曲线的测量装置.计算所有波长的LED对应的TDI CCD光谱响应度,绘制在405～890 nm波长范围的光谱响应曲线.实验获取了TDI CCD光谱响应曲线,从曲线中可以看出,TDI CCD光谱响应范围为：405～890 nm.不确定度分析结果显示,TDI CCD相对光谱响应度曲线的最大不确定度约为4.15％,满足测量要求.

基于TDI-CCD的红外焦平面探测技术

TDI-CCD器件是近年来发展起来的一种新型光电传感器,与普通线阵CCD相比具有很高的响应度和更高的灵敏度。基于TDI-CCD构成的红外焦平面探测器件灵敏度高,分辨率高,能在更低照度下工作,具有广阔的应用前景。本文详细介绍了它的工作原理及成像特点,并对器件结构、图像时钟、电荷包转移效率、同步控制等技术问题进行了讨论。

推扫相机激光干扰等效缩比模型研究及实验验证

随着激光技术的快速发展,推扫相机的激光干扰问题倍受关注。推扫相机一般有较高的角分辨率,口径大焦距长造价高,若按照对等要求进行干扰实验研究,其技术难度大实验费用高。针对激光对推扫相机干扰效果评价的难题,从推扫相机成像原理和激光对推扫相机干扰机理入手,提出了一个推扫相机激光干扰等效缩比模型,并通过实验对该模型进行了验证。实验表明:在推扫相机F数不变的前提下,保持相同的入瞳激光功率和积分时间,激光对缩比相机与原相机具有相同的干扰效应,即在两相机像面上的激光干扰面积基本相同。该研究成果可应用于激光对推扫相机干扰效果评价和相机激光防护研究等方面。