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特性阻抗的模拟设计与测试
1
作者
何思军
《电子电路与贴装》
2006年第3期61-65,共5页
本文主要通过对不同尺寸阻抗试样及不同大小阻抗试样的阻抗测试TDR迹线的分析,对特性阻抗模拟设计试样的尺寸及阻抗大小与Polar CITS测试系统的测试区域的选取之间的关系进行阐述,以便为特性阻抗模拟试样的设计与测试提供参考。
关键词
阻抗试样
tdr迹线
探针
测试区域
测试
边界
下载PDF
职称材料
题名
特性阻抗的模拟设计与测试
1
作者
何思军
机构
深圳市五洲电路集团有限公司
出处
《电子电路与贴装》
2006年第3期61-65,共5页
文摘
本文主要通过对不同尺寸阻抗试样及不同大小阻抗试样的阻抗测试TDR迹线的分析,对特性阻抗模拟设计试样的尺寸及阻抗大小与Polar CITS测试系统的测试区域的选取之间的关系进行阐述,以便为特性阻抗模拟试样的设计与测试提供参考。
关键词
阻抗试样
tdr迹线
探针
测试区域
测试
边界
Keywords
impedance coupon
tdr
trace probe testing area testing border
分类号
TN41 [电子电信—微电子学与固体电子学]
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职称材料
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作者
出处
发文年
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1
特性阻抗的模拟设计与测试
何思军
《电子电路与贴装》
2006
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