EUT对TEM传输室特性阻抗影响的边界元分析

采用边界元法分析了金属箱体的受试设备对横电磁波传输室特性阻抗的影响 .计算结果表明 ,当受试设备不满足“三分之一准则”时 ,对特性阻抗的影响达 5Ω以上 ,当满足“三分之一准则”时 ,对特性阻抗的影响小于 2Ω .测量结果证实了计算方法的有效性 。

一种直接计算ATEM传输室谐振频率的简单方法

提出一种新的半解析方法,分析并计算了非对称横电磁波传输室谐振频率,通过计算等效为终端开路和短路的非均匀传输线的谐振频率计算了非对称横电磁波传输室谐振频率.采用矩量法计算了中间过程的电容分布和沿传输线的特性阻抗.通过解传输线阻抗转移公式和终端输入阻抗的气隙电容表达式的联立方程得出了数值结果.

TEM传输室多层介质支撑特性阻抗的数值分析

采用边界元法分析了芯板支撑对TEM传输室特性阻抗的影响。介绍了建模方法，以及边界元法计算多介质区域特性阻抗的基本思想。计算结果表明：芯板支撑对特性阻抗的影响比较显著，随材料介电常数的不同，影响值一般为2-5Ω左右。测量结果与计算结果基本吻合。提出的数值计算方法有助于TEM传输室的设计。

EUT对TEM传输室基本特性影响的边界元分析

采用边界元法分析了不同尺寸的良导体受试设备 (EquipmentUnderTest ,EUT)对TEM传输室特性阻抗和场分布的影响 ,并估算了敏感度测试中EUT所承受暴露场强的大小。计算结果表明 :与空载时相比当EUT满足“1/ 3准则”时 ,TEM传输室的特性阻抗下降值小于 2Ω ,EUT上、下方场强增加 3～ 4dB ,EUT上部所承受暴露场强比通常的估算方法高约 4～ 6dB。

横电磁波传输室谐振频率的有限元分析

采用三维有限元法分析了TEM传输室的高次模截止频率和谐振频率。在有限元分析软件ANSYS下进行了建模求解,提供了一种快速、准确求解TEM传输室谐振频率的有效方法。通过实验分析,证实了对场分布影响较大的第一阶谐振频率是TE101模,TE101模的谐振频率是TEM传输室的上限使用频率。

基于波导缝隙天线的TEM室频率扩展方法

为突破实际测试当中的局限,研究了横电磁波传输(TEM)室频率范围的扩展方法。运用电磁场与微波技术相关原理,通过分析TEM室壳体开缝对高次模的影响,利用壳体表面电流分布变化规律和波导缝隙天线原理重新解释了开缝对高次模的抑制作用,进而提出了一种TEM室壳体表面开缝的设计方法。通过电磁场数值仿真,验证了抑制高次模工程方法的有效性,并对其控制参数和约束条件的准确性进行了分析评估;通过加工实物并进行实测,进一步验证了新方法的效果。仿真与测试结果表明,开缝抑制高次模的工程方法能够在不减小测试空间与影响主模传输的前提下,将测试带宽扩展了42.9%。

远场区同轴传输线测试法的原理与进展

介绍了远场区电磁屏蔽材料屏蔽效能同轴测试法的原理背景和测试方法,建立了各种测试方法的等效电路模型,分析了影响测试结果可靠性的主要因素,并对各种测试法的性能进行了比较。同时指出了同轴测试法在电厚情况下的局限性是限制同轴测试法高频应用的主要原因之一。

第三讲 电磁兼容测量需用的主要仪器和设施（二）

TEM传输室测试装置 横电磁波传输室（TEM传输室）是由信号源、放大器、功率计、50Ω负载和TEM室等组成。它可用作辐射敏感度测量装置和辐射发射测量装置，也可以作为电场标准和磁场标准来校准全向探头、小偶极子和环天线。TEM室是一个变形的同轴线，外导体的横截面可成矩型或正方形，内导体是一块金属平板，两端成锥性并逐渐过渡到50ΩN型接头。内导体安装的位置有对称和非对称之分。当信号通过传输室时，在其内外导体之间激励起横电磁波，在TEM传输室中心部分形成一个比较均匀的场强(如图1和2所示),在大约半个腔体的1/3空间内场均匀性为±3dB，空间越小场均匀性越高。