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自动化流程方案实现精确热分析
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作者 陆楠 《电子设计技术 EDN CHINA》 2012年第1期18-18,20,共2页
在所有电子器件及系统故障中，过热加速导致的故障占整个故障比例的的55％，那些过早出现故障的LED和IC多是由于过热直接导致。IEEE标准1413阐述了精确的热数据的重要性。通常，LED半导体和封装设计工程师采用复杂的热分析软件来分析他... 在所有电子器件及系统故障中，过热加速导致的故障占整个故障比例的的55％，那些过早出现故障的LED和IC多是由于过热直接导致。IEEE标准1413阐述了精确的热数据的重要性。通常，LED半导体和封装设计工程师采用复杂的热分析软件来分析他们的产品， 展开更多
关键词 热分析 FLOTHERM T3Ster teraled MENTOR
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