TFT-LCD表面Mura缺陷的AOI检测研究进展

液晶显示屏幕的表面缺陷检测是保证TFT-LCD等液晶显示屏质量稳定性的关键。得益于在检测表面缺陷方面高效率、低成本的优势,机器视觉技术目前已经成为TFT-LCD质量检测的主要手段。本文首先概述了液晶屏的发展历程,列举了常见Mura缺陷的类型,分别介绍了基于传统图像处理和基于深度学习的Mura缺陷检测方法,概述了图像滤波和图像亮度校正等图像预处理技术的研究动态。本文重点阐述了监督学习、无监督学习和迁移学习等人工智能技术在TFT-LCD表面Mura缺陷检测领域的应用,并对基于机器视觉的TFT-LCD表面Mura缺陷检测的技术发展趋势进行了展望。

水解酸化+两级AO/MBR+臭氧催化氧化+BAF+气浮处理TFT-LCD废水

以某薄膜晶体管液晶显示器(TFT-LCD)企业的废水处理厂为例,对其接纳的废水进行分析。针对废水成分复杂、水质变化大、污染物浓度高、可生化性差以及排放要求高的特点,将废水分为有机废水、酸碱废水和含氟废水进行分类收集、分质预处理,经预处理后的3种废水混合后再进行进一步处理。根据混合废水的水质特性,设计开发了水解酸化+两级AO/MBR+臭氧催化氧化+BAF(DN型)+气浮+次氯酸钠消毒的组合处理工艺。运行结果表明,该组合工艺运行稳定,试运行期间平均出水COD、BOD_(5)、NH_(3)-N、TP、TN、SS、F^(-)、总铜分别为15、2.1、0.16、0.13、3.8、2、0.81、0.19 mg/L,出水水质能够稳定达到设计要求,直接运行成本约5.17元/m^(3)。

TFT-LCD液晶玻璃断面分析装置的设计与仿真

薄膜晶体管液晶显示器(TFT-LCD)液晶玻璃的大尺寸裁切断面无法使用显微镜采集图片,针对这个问题,设计了相应的玻璃断面分析装置,并应用Adams软件对该装置中的滑动螺旋机构进行仿真分析和结构优化。所设计的玻璃断面分析装置操作简单,可快速获取大尺寸玻璃边料断面缺陷图片,经优化改进后的滑动螺旋机构需添加的扭矩值比未优化前减小1倍。

TFT-LCD及触摸屏玻璃基板激光断切现象研究

激光切割技术已经成为玻璃生产及加工领域中的一种成熟的工业加工技术,具备高精度、高速度、高质量、高效率的优点。断切现象是薄膜晶体管液晶显示器(ThinFilmTransistorLiquid CrystalDisplay,TFT-LCD)及触摸屏玻璃基板激光切割的质量问题之一。文章从设备接地、激光器出光功率稳定性、光路和软体系统信号对接4个方面分析短切现象产生的原因,并给出相应的处理方法,以期为常见激光切割质量问题的处理提供参考。

调整彩色滤光膜的致密性和疏水性以减少TFT-LCD制造中的气体释放

TFT-LCD产业正朝着高效率、低成本的方向发展。在TFT-LCD制造过程中,发现不同的光刻胶需要不同的真空干燥时间。为了减少制造时间,提高面板成品率,有必要明确影响真空时间的因素。本文探讨了抽运时间与光刻胶材料性能的关系。发现光刻胶的热稳定性与抽运时间的关系可以忽略不计。光刻胶的致密性和疏水性与真空干燥时间密切相关。致密性和高疏水性可以有效避免水蒸气在制造过程中侵入和储存在光刻胶中,减少泵送次数。总的来说,这项工作可以为未来TFT-LCD工业新型光刻胶的开发提供一定的参考。

TFT-LCD产品缺陷与用户破膜数相关性研究

通过对TFT-LCD玻璃产品缺陷与用户在使用同批次产品中破膜数据的相关性研究,提前预测产品在用户端发生破膜问题的比例。以便更合理地优化产品质量控制。

基于Swin Transformer轻量化的TFT-LCD面板缺陷分类算法

在TFT-LCD面板缺陷检测中,检测对象背景复杂、缺陷细微且种类繁多,而工业生产实时性要求高,传统的缺陷分类算法往往难以兼顾精度和速度要求,无法适用于实际生产应用。为均衡TFT-LCD面板缺陷分类的准确率和速率,提出一种基于Swin Transformer的轻量化深度学习图像分类模型。首先对模型每层输入的特征图进行Token融合以减少模型计算量,从而提高模型的轻量化水平。其次引入深度可分离卷积模块以帮助模型增加卷积归纳偏置,从而缓解模型对海量数据的依赖问题。最后使用知识蒸馏方法来克服模型轻量化导致的检测精度下降问题。在自制TFT-LCD面板缺陷分类数据集上的实验表明,本文提出的改进模型相比基线模型,FLOPs计算量降低了2.6 G,速度指标提升了17%,而Top-1 Acc精度仅损失1.3%,且与其他图像分类主流模型相比,在自制数据集和公开数据集上都具有更均衡的精度和速度。

TFT-LCD用黑色光刻胶材料对曝光过程Mark读取的影响

大尺寸薄膜晶体管液晶显示器(Thin Film Transistor Liquid Crystal Display,TFT-LCD)显示器为节省黑色矩阵(Black Matrix,BM)制程降低面板成本,使用黑色膜柱(Black Photo Spacer,BPS)技术替代BM和PS(Photo Spacer)制程,同时为兼顾对组精度提升的需求,采用BOA(BPS on Array)技术,将BPS转移至阵列基板侧。原BM制程是第一道制作,而新的BPS制程则位于阵列最后一道制程。BPS曝光成型需使用阵列前制程的金属标(Metal Mark)进行精准对位,实现精细化图案。BPS的透过率低,致使CCD摄像机透过BPS抓取前制程的金属标进行对位非常困难。针对该技术难题,对曝光设备抓标的原理进行了分析,通过调整材料颜料组成,获取了不同透过率BPS材料。将不同透过率的BPS材料进行曝光成型,研究曝光对位过程对材料透过率的最低要求,同时遮光度尽可能大。实验结果表明,NSK曝光机对位灯源波长位于780~1000 nm红外区域,在该波段BPS材料透过率低于23%时会导致对位失败。通过使用有机-无机混合颜料组成取代有机混合颜料,在红外波段可获得接近90%的透过率,满足对位需求。同时固化成型后可获得1.2/μm光学密度,满足BPS产品遮光特性需求。以此制作的BPS面板光学指标满足产品规格。

高分辨率TFT-LCD光电自动校正系统设计

针对当前MIPI接口的高分辨率TFT-LCD(液晶显示屏)光电校正基本是手动校正,或者部分自动校正现状,搭建了适合目前高分辨率液晶显示的ARM+FPGA+双SSD2828光电自动校正系统,实现了GAMMA2.2、Flicker最佳Vcom自动校正算法的优化,改善了影响高分辨率TFT-LCD显示品质的亮度、暗度、对比度、色度、闪烁等光电参数,提升了显示品质。实验结果表明该系统可支持2 K×4 K高分辨率TFT-LCD,刷新率最高可达144 Hz。整体校正时间稳定在30 s,满足厂线快速生产的需要,且校正系统成本低、系统升级方便,在显示技术行业具有较强的应用价值。

从废弃TFT-LCD面板中回收稀贵金属铟的实验研究

为了回收废弃LCD显示器中的稀贵金属铟,以TFT-LCD型液晶面板为例,分别对其CF基板和TFT基板提出研究方法。两块基板的结构和材料不同,但都有一层表面覆盖有铟与锡的复合氧化物(ITO)。针对CF基板,采用氢氧化钠溶液在加热的状态下溶解其上的彩色膜层,使ITO快速脱落,过滤溶液即可回收铟;而TFT基板采用320目耐水砂纸磨削的方法,收集磨屑可快速回收铟。实验数据表明,两块基板中铟的回收率为99.6%、100%,回收效率高且环保。

TFT-LCD玻璃基板板面划伤管控措施

液晶玻璃基板生产过程中会产生各种板面缺陷,划伤为其代表性一种,这类缺陷与制造过程中所接触的设备零部件及介质有很大关联。为保证高品质玻璃基板产品,通过对TFT-LCD玻璃基板板面划伤产生机理分析、发生的风险识别,重点进行玻璃基板接触设备零部件及介质所引发板面划伤评估,制定相关的应对措施。摸索出了适合板面高品质要求的玻璃基板生产设备管控措施,达到了有效降低玻璃基板划伤产生的目的。

TFT-LCD周边驱动电路集成化设计

根据N沟道和P沟道多晶硅薄膜晶体管(poly SiTFT)的特性,使用Orcad作为辅助工具,设计了应用于132(RGB)×176TFT LCD的栅驱动电路和数据驱动电路。依据132RGB×176TFT LCD的参数对电路进行了模拟,实现了小尺寸液晶屏的p SiTFT周边集成驱动电路的设计。

ARM芯片S3C2410驱动TFT-LCD的研究

介绍了 S3C2410 的 LCD 控制器的数据和控制管脚,并给出了 LCD 的控制流程和TFT LCD的控制器设置规则。参照 TFT LCD CJM10C0101 的逻辑要求和时序要求设计了其驱动电路,设置了各主要LCD寄存器。开发了 CJM10C0101 在嵌入式 LINUX下的显示驱动程序,并在CJM10C0101上显示了清晰稳定的画面。实验表明这套装置通用性好,能驱动大部分的TFT LCD;可移植性强,经过少许修改即可应用在其他嵌入式系统中。它是 S3C2410驱动TFT LCD的一套较佳的解决方案。

TFT-LCD基板玻璃化学组成的发展状况与展望

TFT-LCD基板玻璃是组成TFT-LCD的重要材料,其物理化学性能是由基板玻璃的化学组成来决定。文中介绍了典型商用TFT-LCD基板玻璃的化学组成及其物理化学性能,并对TFT-LCD基板玻璃的发展状况进行了展望。

一种TFT-LCD Vertical Block Mura的研究与改善

在TFT-LCD(Thin Film Transistor-Liquid Crystal Display)以及其他显示器件产品中,Mura是一种比较常见的不良现象,它可以直接影响到产品的画面品质。文章结合生产工艺的实际情况,采用MM,CD,EPM,SEM,FIB等检测设备,对一种Vertical Block Mura进行了大量的实验测试、数据分析和理论研究工作,特别是对其产生的原因创新性地提出了两种方向上的理论观点。通过加强设备科学管理监控,减小耦合电容效应等一系列改善措施,产品质量得到了很大程度的提升,Vertical Block Mura从改善前的26.1%降到了1.3%,从而使Vertical Block Mura得以改善,很大程度地提高了产品的品质,并为今后相关问题的进一步研究和解决奠定了一定的理论基础。

基于TFT-LCD&ARM&FPGA的触摸手持式存储示波表

介绍一种LPC2220+IS61LV256+STT39VF1601+ISP1581组成ARM控制部分,完成显示数据的处理和对FPGA的控制,AD9283与EP1C6Q240FPGA芯片完成数据采集的智能控制,USB2.0实现与PC通信,由CPLD+SRAM来完成TFT驱动和显示控制,用C/C++语言实现TFT仪器界面设计,显示的刷新频率为60Hz,运用实时与等效采样原理,实现双通道实时采样100MHz,等效采样5GHz的手持式存储示波表的设计思想和实现方案。该设计在数据处理功能不降低的情况下,有结构简单,价格低,可以分多层实现文字和图像的静态和动态显示的特点。实验表明该设计控制灵活可靠,能够实现对液晶的时序和控制功能。文中在介绍系统设计思想的同时,重点讲述FPGA/CPLD设计、软件设计等。

基于自适应局部增强的手机TFT-LCD屏Mura缺陷自动检测

针对手机屏幕图像整体亮度不均以及Mura缺陷对比度低等特点,提出一种基于自适应局部增强的Mura缺陷自动在线检测方法。首先对CCD相机采集的手机屏幕原始图像进行感兴趣区域提取、几何校正、滤波等预处理,获取图像中的屏幕区域,然后将屏幕区域划分为多个不重叠的像素块,并根据每个像素块的灰度分布特征,采用自适应局部增强算法自动识别并定位图像中的Mura区域,最后考虑到Mura缺陷大小的不确定,提出采用多层级分块的方式对屏幕区域进行检测,提高算法鲁棒性。实验结果表明,相较现有多种屏幕缺陷自动检测算法,本文方法能更准确有效地识别手机屏幕中的Mura缺陷,且覆盖率和误检率分别为91.17%和5.84%。

基于Chan-Vese模型的TFT-LCD Mura缺陷快速分割算法

针对传统的Chan-Vese模型(C-V模型)分割背景不均匀的TFT-LCD Mura缺陷速度慢的问题,将水平集函数与符号距离函数的偏差作为能量项引入C-V模型,去掉了符号距离函数重初始化步骤;为了平衡图像的整体亮度不均匀,在传统的C-V模型中引入轮廓曲线内、外部区域之间的亮度差项,提高了分割准确性。在数值实现上,采用无条件稳定的半隐差分格式,适当加大步长,加速曲线演化过程,相比于有限差分格式和AOS格式,分割速度明显提高。实验结果表明,本文提出的算法能够准确地分割背景不均匀的Mura缺陷图像,并且分割速度快。

废TFT-LCD面板中主要元素溶出特性

以废TFT-LCD面板破碎料为研究对象,在使用XRF(X射线荧光光谱分析仪)分析其主要元素组成以及采用ICP-AES测试不同酸体系下主要元素浓度的基础上,研究了不同酸体系下主要元素的溶出特性.结果表明:废TFT-LCD面板由Si、Al、Sr和In等10余种元素组成,其主要组成元素在不同酸体系下的溶出特性存在明显差异,这与其赋存形态有密切关系.In在各种酸体系下溶出浓度变化较小,为2.83～3.06 mg/L.Fe的溶出特性与In相似,是主要伴随离子.Al和Sr易在浓盐酸体系下溶出.As在含有浓硝酸的体系下溶出率较高,最高溶出率为100%,而在无浓硝酸体系下的溶出率最低值仅为2.93%.Zn、Ti、Cu、Sn和Cr在各酸体系下的溶出浓度均较低(均低于1 mg/L),不宜回收.

SXGA TFT-LCD驱动电路的设计

文中详细分析了一种分辨率为 ＳＸＧＡ的液晶显示器驱动电路的设计概要，介绍了其所 使用的驱动方法——三级电压驱动方法、数据驱动器和扫描驱动器的结构及其功能，对在驱动中的 灰度级产生方法进行了分析。并阐述了电路中电磁干扰（ＥＭＩ）的解决方法，对接口中所应用的 ＬＶＤＳ技术进行了说明。