快速生长的TGS晶体的介电、热释电性能

本文测量了生长速度为2mm/d 和7mm/d 的两种 TGS 晶体的介电常数(ε)、自发极化强度(P_s)和热释电系数(λ)随温度的变化关系。结果表明:生长速度快的晶体的介电常数增加,居里点附近的介电峰值降低,自发极化强度和热释电系数都增大,热释电优值与按正常速度生长的晶体的大致相同,最后从晶体缺陷的角度对实验结果进行了讨论。

两种TGS晶体在低温下的热电和介电性

测量了TGS、ATGSP两种晶体在室温至20K温度范围内的介电常数K_(22)和热电系数p_2。这两种参数都随温度降低而单调下降,不显示相变的迹象。在此范围内的任一温度,ATGSP的热电系数p_2和优值p_2/K_(22)均较TGS的大。优值p_2/K_(22)随温度下降而减小,与自发极化的温度特性不相一致。