ATGSP晶体缺陷的X射线形貌术研究

用X射线形貌术研究了ATGSP晶体的缺陷。讨论了缺陷的性质、产生的原因和对晶体性能的影响。发现该晶体的缺陷分布比较特殊,即缺陷集中于晶体的-b方向区域。同时我们与TCS晶体作了貌相比较,研究了它们之间的差别。