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铅同位素比值的飞行时间二次离子质谱法测量 被引量:1
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作者 宋玲根 蔡磊 +4 位作者 任云珠 李白云 陶莹 曹永明 宗祥福 《质谱学报》 EI CAS CSCD 1996年第4期39-44,共6页
介绍了用飞行时间二次离子质谱法对器物中的铅同位素比值的测量。在仔细地讨论了质量干扰、二次离子产额的同位素分馆效应等对测量结果的影响后,认为本工作无需标准样品,可以实现对样品无损的高质量分辨的二次离子质谱分析。铅同位素... 介绍了用飞行时间二次离子质谱法对器物中的铅同位素比值的测量。在仔细地讨论了质量干扰、二次离子产额的同位素分馆效应等对测量结果的影响后,认为本工作无需标准样品,可以实现对样品无损的高质量分辨的二次离子质谱分析。铅同位素比值的测量精确度优于1%。 展开更多
关键词 铅同位素比值 tof-sim法 样品
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