扬声器单元TS参数偏差对系统频率响应曲线的影响

在闭箱、开口箱、被动辐射体箱和带通箱系统的设计中,人们已认识到单元的TS参数和箱体的声学参数有紧密的配合关系。一旦箱体的结构设计有所确定,安装在箱体上的扬声器单元的TS参数也必须确定,这样,系统的低音频特性就因此而定。但是在批量投产时,TS参数的偏差将对系统的低音频特性产生变化。以开口箱的系统频率响应曲线为分析目标,要观察TS参数的偏差所产生的变化。为此,采用LEAP5扬声器设计软件作相应的模拟,证明只要TS参数的偏差在一定的范围内,频率响应曲线的变化也可以维持在一个偏差带内。这样,可根据系统的技术指标来确定TS参数的偏差。

TS参数及其测量方法(1)

在设计音箱时必须要使用到扬声器的TS参数。本文将介绍其中最重要的Fs、Qts和Vas三种TS参数的测量和计算的方法。一、TS参数在设计使用低音扬声器的音箱时必须事先知道低音扬声器的TS参数．其中最少要知道下述的三个参数：

TS参数及其使用方法

扬声器的音圈的阻抗并不是纯电阻，而是随频率变化的。为了让分频网络具有设计时的特性，扬声器的输入必须要使用让阻抗恒定的补偿电路。在前面的文章中已就如何使用测得的TS参数设计补偿电路做了介绍。本文以Alpine的低音扬声器DLX-217W和高音扬声器DLX-230T为例介绍如何设计扬声器的补偿电路。

晶体管参数ts引起的电子镇流器功率变化问题探讨

本文简要介绍了晶体管的开关特性参数 ,详尽分析了ts对电子镇流器振荡频率和线路输入功率的影响 ,讨论了ts值相差较大的晶体管在电子镇流器中应用时出现的某些问题。

几个扬声器测试系统

简要介绍了基于PC机的扬声器测试系统在国内的使用状况。重点介绍了LMS，MLSSA，Clio，DAAS，SYSid5种测试系统的基本组成，测试条件和基本功能；比较了它们的异同；指出了在开发和生产中还存在的问题。