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题名热载流子退化对MOS器件的影响
被引量:1
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作者
章晓文
张晓明
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机构
信息产业部电子第五研究所
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出处
《电子产品可靠性与环境试验》
2002年第1期14-17,共4页
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文摘
介绍了评价热载流子注入效应的加速寿命试验,针对具体的工艺线,提取了MOS管加速寿命试验的模型参数,以阈值电压变化10 mV为失效判据,分别对0.8 μm和0.6 μm工艺线的热载流子注入效应进行了评价。整个测试过程由程序控制,设备精度高,使用简便,适用于亚微米和深亚微米工艺线的可靠性评价。
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关键词
热载流子
退化
MOS器件
注入
加速寿命试验
阈值电压
可靠性
集成电路
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Keywords
hot carrier injection
accelerated lifetime experiment
threshold voltage
reliability assessment
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分类号
TN386.1
[电子电信—物理电子学]
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题名简版社区心理体验评估测评大学生的效度和信度
被引量:5
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作者
王东方
孙梦
欧阳萱
范方
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机构
华南师范大学心理学院/华南师范大学心理应用研究中心
广州医科大学附属脑科医院(广州市惠爱医院)
中南大学湘雅二医院精神科、中南大学湘雅二医院精神卫生所
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出处
《中国心理卫生杂志》
CSCD
北大核心
2022年第2期172-178,共7页
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基金
华南师范大学心理学院研究生科研创新项目(PSY-SCNU202017)。
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文摘
目的:考察简版社区心理体验评估(CAPE-P8)的效度和信度。方法:对1451名大学生进行CAPE-P8施测,采用精神病前驱期问卷(PQ-16)作为效标工具,217名大学生在7~14天后完成CAPE-P8重测,90名大学生在一个月内完成电话访谈。结果:CAPE-P8内部一致性(α=0.82~0.84)、重测信度(α=0.80~0.83)、自评-访谈一致性(α=0.64~0.78)均良好;验证性因子分析显示CAPE-P8的妄想体验和幻觉体验的双因子模型拟合良好;CAPE-P8频率维度与痛苦维度呈正相关(r=0.72~0.89,P<0.001),且CAPE-P8各维度与PQ-16呈正相关(r=0.50~0.67,P<0.001);大学生精神病样体验终身检出率、现患检出率分别为83.5%和58.6%,终身痛苦率、现患痛苦率分别为15.9%和9.9%。结论:本研究显示简版社区心理体验评估(CAPE-P8)测评大学生的精神病样体验效度信度良好。
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关键词
简版社区心理体验评估
终身精神病样体验
现患精神病样体验
效度
信度
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Keywords
simplified version of the Community assessment of Psychic Experiences
lifetime psychoticlike experiences
current psychotic-like experiences
validity
reliability
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分类号
B841.7
[哲学宗教—基础心理学]
R749.041
[医药卫生—神经病学与精神病学]
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题名铝合金贮箱寿命安全性评估试验
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作者
王晓博
潘桢
鄢东洋
董曼红
刘希敏
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机构
北京宇航系统工程研究所
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出处
《宇航材料工艺》
CAS
CSCD
北大核心
2014年第A01期79-84,共6页
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文摘
介绍了铝合金贮箱的延寿试验,结合无损检测信息、极限承载能力试验、断裂韧性测试和裂纹扩展速率试验对铝合金贮箱进行使用安全性评定,提出了一套用于评估长期贮存铝合金贮箱寿命安全性的试验规范,供后续开展工作使用。
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关键词
贮箱
寿命
评估
试验
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Keywords
tack, lifetime, assessment, experiment
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分类号
V252
[一般工业技术—材料科学与工程]
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