期刊文献+
共找到6篇文章
< 1 >
每页显示 20 50 100
XPS Study of Electroless Deposited Sb2Se3 Thin Films for Solar Cell Absorber Material
1
作者 Towhid Adnan Chowdhury 《Energy and Power Engineering》 2023年第11期363-371,共9页
As a thin film solar cell absorber material, antimony selenide (Sb<sub>2</sub>Se<sub>3</sub>) has become a potential candidate recently because of its unique optical and electrical properties a... As a thin film solar cell absorber material, antimony selenide (Sb<sub>2</sub>Se<sub>3</sub>) has become a potential candidate recently because of its unique optical and electrical properties and easy fabrication method. X-ray photoelectron spectroscopy (XPS) was used to determine the stoichiometry and composition of electroless Sb<sub>2</sub>Se<sub>3</sub> thin films using depth profile studies. The surface layers were analyzed nearly stoichiometric. But the abundant amount of antimony makes the inner layer electrically more conductive. 展开更多
关键词 sb2Se3 ELECTROLESS Depth Profiling Thin film x-Ray Photoelectron Spectroscopy
下载PDF
Depth Profile Study of Electroless Deposited Sb2S3 Thin Films Using XPS for Photovoltaic Applications
2
作者 Towhid Adnan Chowdhury 《Materials Sciences and Applications》 2023年第7期397-406,共10页
Sb<sub>2</sub>S<sub>3</sub> has gained tremendous research recently for thin film solar cell absorber material because of their easy synthesis, unique electrical and optical properties. The sto... Sb<sub>2</sub>S<sub>3</sub> has gained tremendous research recently for thin film solar cell absorber material because of their easy synthesis, unique electrical and optical properties. The stoichiometry and composition of electroless Sb<sub>2</sub>S<sub>3</sub> thin films were analyzed using XPS depth profile studies. The surface layers were found nearly stoichiometric. On the other hand, the inner layer was rich in antimony composition making it more conductive electrically. 展开更多
关键词 sb2S3 Depth Profiling x-Ray Photoelectron Spectroscopy Thin film ELECTROLESS
下载PDF
Sb掺和对TeO_x薄膜光学和静态记录特性的影响 被引量:1
3
作者 李青会 干福熹 《光子学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2001年第11期1421-1424,共4页
以真空蒸镀法在 K9玻璃基底上制备了 Te Ox∶ Sb单层薄膜 ,对薄膜的结构、光学和静态记录特性进行了研究 .结果表明 ,Sb掺和后 Te Ox 薄膜的结构、反射光谱和光学常量均发生了明显变化 .Te Ox∶Sb薄膜具有良好的写入灵敏性并具有了一定... 以真空蒸镀法在 K9玻璃基底上制备了 Te Ox∶ Sb单层薄膜 ,对薄膜的结构、光学和静态记录特性进行了研究 .结果表明 ,Sb掺和后 Te Ox 薄膜的结构、反射光谱和光学常量均发生了明显变化 .Te Ox∶Sb薄膜具有良好的写入灵敏性并具有了一定的可擦除性能 。 展开更多
关键词 teox:sb薄膜 静态记录 光存储 真空蒸镀法 薄膜制备 光学特性 结构 氧化物薄膜
下载PDF
TeO_x薄膜结构及短波长静态记录特性的研究 被引量:3
4
作者 李青会 顾冬红 干福熹 《光子学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2001年第4期468-472,共5页
以真空蒸镀法在 K9玻璃基底上制备了 Te Ox 单层薄膜 .使用 X射线光电子能谱仪(XPS)、X射线衍射仪 (XRD)、原子力显微镜 (AFM)对薄膜的结构进行了分析 .实验结果表明 ,薄膜是由晶态 Te分散在非晶态 Te O2 基体中形成的混合体系 ,Te O2 ... 以真空蒸镀法在 K9玻璃基底上制备了 Te Ox 单层薄膜 .使用 X射线光电子能谱仪(XPS)、X射线衍射仪 (XRD)、原子力显微镜 (AFM)对薄膜的结构进行了分析 .实验结果表明 ,薄膜是由晶态 Te分散在非晶态 Te O2 基体中形成的混合体系 ,Te O2 基体的存在增强了Te的抗氧化性能 ;薄膜具有精细粒状结构和粗糙的表面 ;退火后薄膜的反射率增加和 Te向表面的偏析、重聚集及表面粗糙度的降低有关 .采用波长为 51 4.4nm的短波长静态记录仪对薄膜静态记录性能的测试结果表明 :薄膜具有良好的记录灵敏性 ,在记录功率 1 .5m W、脉宽50 ns时就可产生较高的反射率衬比 (度 ) .研究结果为选择合适掺和物使 Te Ox 展开更多
关键词 teox薄膜 静态记录 高密度光存储 真空蒸镀法 xPS xRD AFM
下载PDF
Sb掺杂SnO_2·X膜的制备及热电性能 被引量:1
5
作者 谭乃迪 张思科 邹长军 《天津化工》 CAS 2003年第1期7-9,共3页
在 5 0 0℃石英玻璃管基质上 ,化学气相沉积法制备Sb掺杂氧化锡SnO2 ·X膜。研究了元素掺杂量、镀膜温度和退火处理对电阻温度特性的影响。应用实验结果表明 ,SnO2 ·X膜热效率高 ,功率密度达到 42W·cm-2 。
关键词 掺杂 SnO2·x 制备 热电性能 金属材料 气相沉积
下载PDF
原子力显微镜对TeO_x薄膜中短波长静态记录点结构的分析 被引量:4
6
作者 李青会 孙洁林 +1 位作者 王海凤 干福熹 《光学学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2001年第10期1177-1181,共5页
以真空蒸镀法在K9基底上制备了TeOx 单层薄膜。采用特定的定位方法 ,使用原子力显微镜对不同记录功率下薄膜中短波长静态记录点 (5 14.5nm)的结构进行了分析。实验结果表明薄膜具有良好的记录灵敏性 ,在记录功率 1.5mW时就可产生较高的... 以真空蒸镀法在K9基底上制备了TeOx 单层薄膜。采用特定的定位方法 ,使用原子力显微镜对不同记录功率下薄膜中短波长静态记录点 (5 14.5nm)的结构进行了分析。实验结果表明薄膜具有良好的记录灵敏性 ,在记录功率 1.5mW时就可产生较高的反射率对比度。记录点具有明显的凹陷和凸起结构 ,随着记录功率的提高 ,凹陷和凸起增强 ,记录点增大。记录点的形态结构和记录前后反射率对比度是直接相关的。研究揭示了原子力显微镜在提高薄膜存储特性如信噪比、存储密度等方面的分析功能。 展开更多
关键词 teox 薄膜 原子力显微镜 静态记录 光存储 结构分析 记录点
原文传递
上一页 1 下一页 到第
使用帮助 返回顶部