TeSeIn相变记录介质膜稳定性的研究

本文从理论和实验上分析指出亚稳非晶态薄膜的等温(室温)结晶导致TeSeIn薄膜光学性质的变化,简要讨论了热蒸发制备非晶态膜的条件.

TeSeIn相变记录薄膜的微观特性研究

TeSeIn是一种可逆光存贮介质.分别用单源热蒸发和磁控溅射制备TeSeIn膜.利用透射电镜(TEM)研究了膜的结构和微观形貌.利用俄歇剖面技术(AES-PRO)给出了膜的组分深度剖面,分析了TeSeIn记录介质膜与ZnS保护膜界面间的互扩散大小.利用X光电子能谱(XPS)分析了组元深能级结合能的化学位移.最后根据上面实验结果简要讨论了制备稳定的多元记录介质膜的方法.

TeSeIn相变记录薄膜及其可逆光存贮特性

本文报道了从理论和实验上对相变记录薄膜Te_x(In_ySe_(1-y))_(1-x)系统的研究结果.当记录薄膜TeSeIn的组成对应共晶区域(x=0.7,y=0.2～0.5)时,TeSeIn膜具有稳定的光致可逆相变循环过程,擦除时间10μs,读出信号对比度0.23,擦写循环次数达10~5以上.