基于Liberate+Tempus的先进老化时序分析方案

在先进工艺节点(7 nm,5 nm及以下)下,电路老化已经成为制约芯片性能和可靠性的“卡脖子”难题。老化效应将导致器件延时增大,进而产生时序违例的风险。数字电路设计工程师需要在时序分析中预判老化后的时序情况,并针对性地设置时序裕量,才能确保芯片在服役期限中可靠地运行。鉴于此,导入基于Liberate+Tempus的考虑老化效应的静态时序分析(aging-aware STA)方案。评估结果显示,该方案能在兼顾效率、准确性、多样场景老化时序分析的同时实现时序裕量释放,为达成具备更高可靠性和更佳性能的先进芯片设计提供有力依据。

继承巴赫《In Tempus Praesens》DG477 7450

这张新唱片是小提琴家安妮·索菲．穆特演出的两部巴赫小提琴协奏曲和古拜杜丽娜为小提琴与乐队所写的名为《In Tempus Praesens》的小提琴协奏曲。

丰盛人生从经营智慧开始——记德国tempus公司总裁约尔格·W·克诺伯劳博士

约尔格·W·克诺伯劳博士教授(Prof．Dr．JorgW．Knoblauch)系德国tempus公司主要控股人和执行总裁。1995年-2003年,该公司连续8年获得世界权威效率管理奖项“WorldCalenderAwards”。2002年,约尔格·W·克诺伯劳博士本人因其卓越的成就而获得德国经济最高奖--路德维希·艾哈德最佳竞争成就奖。他常年为许多著名企业和欧洲多所著名大学咨询和授课。著有《丰盛人生》、《企业的活力》、《工作压力拜拜!》、《学习压力拜拜!》等多部具有相当影响力的个人企业效率管理权威书籍。”中国CEO欧洲效率管理研修营”的主要培训讲师。

基于老化特征化提取进行时序分析的解决方案

基于Cadence的Liberate+Tempus解决方案,采用一种先进的标准单元老化特征化的方法,同时考虑了偏置温度不稳定性(Bias Temperatrure Instability,BTI)和热载流子注入(Hot Carrier Injection,HCI)老化效应,得到标准单元老化时序库,用于Tempus进行考虑老化的静态时序分析(Aging-aware Static Timing Analysis,Aging-aware STA)。产生一套先进的标准单元老化时序库,能够针对不同标准单元不同传输路径,表征一定范围的老化应力条件的时序特征,改善了传统添加全局时序减免值导致电路PPA(Performance/Power/Area)难以收敛的问题,同时只需要调用一套标准单元库也使STA更加简洁易操作。