用于微控制器晶片测试的探针卡

本文以使用TeradyneJ750测试机测试独立内核的微控制器晶片时所用的探针卡设计为例,通过对微控制器内部各个部件的工作和测试原理的分析,总结了此类探针卡设计的一般原则。