基于太赫兹成像的层状复合绝缘结构内部分层缺陷SSA-CNN定量表征

层状复合绝缘结构内部分层缺陷的几何形状和位置在运行过程中会引发场强畸变,引发局部放电乃至绝缘击穿等故障,因此对层状复合绝缘件内部分层程度进行准确检测具有重要意义。首先利用太赫兹光谱对含分层缺陷的层状复合绝缘结构进行频域成像,得到典型分层缺陷图像集;在此基础上,采用DCGAN模型对图像扩充并建立数据集,实现样本扩充和均衡化;最后,通过三种SSA-CNN(语义自注意)模型对缺陷样本中的分层区域缺陷的几何面积进行了计算分析。结果表明,DeepLabV3+(MobileNetV2)模型的像素精确度最高,对分层区域的识别率可达97.59%,通过像素点的计算可成功表征分层区域缺陷的几何尺寸。研究结果可为层状复合绝缘结构内部分层缺陷的非接触式定量表征提供技术参考。

太赫兹技术进展及其在工业中的应用

近年来,太赫兹技术日渐成熟,工业应用领域不断扩大,市场上出现了越来越多的太赫兹产品。本文主要分析太赫兹技术的发展,并对未来太赫兹工业应用市场进行中期和长期展望。

太赫兹成像NDT

综述太赫兹(THz)光谱和成像技术作为各种非接触无损检测方法在多种工业领域的应用。先概述THz光谱和成像工作原理,后述评在三种行业的选定应用:建筑业、能源电力业和制造业。给出材料表征、厚度测量、缺陷或腐蚀测评实例。最后,对新光谱学、成像装置和相关技术作了讨论,意在为THz系统的工业NDT应用提供借鉴。