一次性可编程存储器的数据保持特性建模及分析

基于300 mm 0.18μm MS 5 V工艺平台设计并流片了1k×16一次性可编程OTP器件,并对存储单元的结构、工作原理及工艺等可能影响数据保持寿命的因素进行了分析。根据Arrhenius寿命模型对不同样品设置了高温老化实验测试,收集数据并对OTP器件的保持特性进行建模。通过225℃、250℃和275℃条件下的高温老化加速实验,拟合样品最大数据保持时间曲线。在生产过程中可能出现的最差产品条件下,对1/(kT)与数据保持时间曲线进行数学拟合,计算在不同失效条件下的浮栅电荷泄漏的激活能和最大数据保持时间。

引信发射环境多参数动态实测与分析

为了准确测量引信在膛内及飞行过程的动态参数,设计了一种可置于引信内部的微型弹载电子测试仪,成功地获取了引信发射及飞行过程的三轴加速度、膛压以及转速等多种参数。根据实测信号特征可以将引信发射过程分为四个阶段:弹丸启动阶段、高膛压加速阶段、出膛前过渡段和出炮口段,其中高膛压加速阶段和出炮口段的加速度值比较大,但是前者加速度值特征是振荡频率高幅值小,后者加速度峰值更高,而且振荡周期长,幅值大。该测试仪获取的相关数据准确可靠,是引信设计、研制、故障分析和性能评价急需的重要依据。

CPLD在飞行体加速度测试系统中的应用

本文论述的是一种应用于飞行体入水过载加速度测试系统。该研究选用Xilinx公司的可编程器件,详细介绍了该测试系统的组成和工作原理,着重介绍了控制电路的功能和工作时序仿真图。

弹载高g值三轴加速度测试系统技术分析

为准确分析弹丸在内弹道运动时的加速度特点,本文设计了一种基于动态存储测试技术的弹载高g值三轴加速度测试系统。文章介绍了系统组成及关键技术,这些关键技术为系统在恶劣的测试环境中能准确测得实验数据提供了保障。最后,对实测得的轴向和径向加速度数据分别进行了处理及分析并得出了相关结论。该测试系统具有实际工程使用价值,可为分析膛炸现象提供一种有效的测试手段。

C8051单片机在加速度测试系统中的应用

C8051单片机是高速混合信号系统级芯片(SOC),该器件具有较快的处理速度和较大的存储容量,并且具有在系统可编程(ISP)的功能,是设计加速度测试系统的理想选择,本文介绍了两种基于C8051单片机的加速度测试系统。

微型膛内加速度测试仪

文中介绍了一种利用存储测试技术测试膛内加速度信号的微型膛内加速度测试仪的硬件结构和工作原理,给出了用该测试仪测取的××弹的膛内加速度曲线。

一种加速度传感器测试系统电源电路的设计

介绍了一套在汽车加速度传感器性能测试系统中数据采集终端成功应用的电源系统。该系统以三端稳压集成电路LM317为基础,系统使用了PIC16F877A单片机的控制直流电压继电器,通过切换电路可以得到多路供传感器测试使用的直流电压,同时还设计了提供给控制系统工作的电源。经过实际运行表明,该电源系统运行可靠稳定。

一种压力(加速度)测试仪的数据存储器的选择及冗余保护

油井射孔过程中,需要实时测量在射孔弹爆炸过程中射孔枪体所受到的压力和冲击加速度,因此设计了压力(加速度)测试仪.如果测试数据丢失,将带来很大的经济损失,为了存储和保护采样数据,选用了一种电可擦除数据存储器,并设计了冗余保护电路.实验表明,该压力(加速度)测试仪能够实现数据的快速采集及可靠存储,数据的准确性和可靠性都能得到保证.

基于C8051F410的弹载信号存储系统设计

为准确可靠的记录弹丸侵彻硬目标时的加速度信号,提出了一种基于C8051F410的弹载信号存储系统。给出了系统的总体设计方案,该系统由C8051F单片机最小系统、加速度信号调理电路、485通信电路、存储电路、上位机读取软件组成。试验结果表明,该系统在高过载条件下能够准确可靠的记录弹丸在冲击过程中的加速度信号,具有体积小,可靠,读取方便,断电不丢失数据的特点。

电容式触摸屏嵌入式闪存控制电路的设计与实现

通过研究嵌入式闪存结构和接口及其时序信息,结合电容式触摸屏的应用环境,同时考虑闪存测试的需求,设计并实现了一种嵌入式闪存专用控制电路。设计以I2 C(Inter-Integrated Circuit)总线作为与主机的接口,定义了一套操作指令,实现了主机对闪存的读写和擦除等基本操作,完成了RTL(Register Transfer Level)代码编写。基于Ncsim仿真软件对电路进行功能仿真,结果表明,电路工作状态转换正常,可以进入测试模式进行测试,主机与MCU(Micro Controller Unit)都可以正常读写和擦除闪存。

基于AT90系列单片机的过载存储测试系统

基于ATMEL 90系列单片机AT90S8515为系统控制器的过载存储测试仪,实现了野外过载存储系统的小型化。该过载存储测试仪由传感器、电荷放大器、模数转换接口、数据存储器及单片机系统组成。关键技术是解决物理寻址扩展以满足存储容量,及采样周期中完成模数转换和结果存储。其软件系统以C/C++为编程工具,包括写入单片机存储器工作程序与其它计算机的通讯,以及其它装载计算机对存储测试系统的处理。

引信加速度信号测试仪设计

为了准确获得引信在弹丸运动各个阶段的加速度信号,设计了一种可置于弹丸引信处的加速度测试仪,使用单片机和CPLD作为控制器,基于乒乓存储原理和负延迟理论,使得测试仪性能得到很大提高。通过靶场实验实测数据表明,测试仪能够成功获取引信发射及飞行过程的三轴加速度曲线,对于引信、弹丸和火炮的设计和研究具有重要意义。

基于三轴数字加速度计的尾翼振动测试系统研究

针对导弹发射过程中尾翼身处高温、高压、高过载等恶劣环境时的振动信号难获取和实测信号失效等问题,利用动态存储测试技术和三轴数字加速度计,设计了一种基于ADXL345三轴数字加速度计的尾翼振动测试系统。具体通过选择适宜的尾翼振动测试加速度传感器,构建抗冲击力强的多重缓冲外层结构,成功实现了对导弹尾翼振动信号的真实采集,并通过分析采集得到的尾翼振动数据,得到了有效的振动加速度曲线和振动频谱图,为尾翼结构的改进提供了重要的依据,对今后采集尾翼振动信号的研究有着重要的意义。

基于蓝牙技术的手机数据存储系统

基于蓝牙的手机数据存储系统由数据发送和接收存储装置组成。发送端采用89C2051、存储端用89C52和蓝牙模块。单片机通过HCI指令控制蓝牙模块,对发出的数据进行附加蓝牙数据帧头处理,通过模拟串口发给蓝牙并发射出去。存储端蓝牙收到数据,传给存储端单片机,并将数据存入CF卡中。CF卡存储的数据再传给PC。PC软件分析网络数据,完成网络的CQT测试分析。

基于CNN和LSTM的航天用涂层型自润滑关节轴承寿命预测及可靠性评估

为探索适用于涂层型自润滑关节轴承的寿命预测和可靠性评估方法,提出一种基于卷积神经网络(CNN)和长短期记忆(LSTM)神经网络的轴承剩余寿命预测模型。首先利用CNN对关节轴承的摩擦扭矩信号进行失效特征提取,然后将通过主成分分析(PCA)和滤波处理后的扭矩信号输入LSTM神经网络中进行训练,得到涂层型自润滑关节轴承寿命预测模型,可实现对轴承剩余寿命的准确预测。最后,基于加速寿命试验数据,采用两参数Weibull分布模型对涂层型自润滑关节轴承的服役可靠性进行评估,结果表明涂层型自润滑关节轴承在轻载低频工况下能够维持在高可靠性水平(90%)下进行长时间稳定服役。

基于三轴磁传感器的弹丸加速度测试研究

针对目前弹丸在膛内发射过程中需要承受恶劣环境下的高温、高压、高过载,同时在发射过程中存在对加速度信息获取及实测信号失效等问题。提出了采用动态存储测试技术和三轴磁传感器对弹丸在膛内及出炮口加速度信号的采集。经数据处理选择了合适的滤波截止频率,在误差允许的范围内,滤波后数据曲线更光滑,符合弹体的刚体加速度。通过对加速度信号截止频率进行分析,得出该结果对弹丸加速度等信号处理研究有着重要的意义。

转管自动机机心加速度测试系统的研究

转管武器机心加速度参数是研究其可靠性的重要依据,针对由转管自动机机心结构限制引起转管武器机心加速度无法直接测量的问题。以存储测试技术为理论指导,设计了一套具有低功耗、多种触发方式可编程的加速度测试系统,并对转管武器机心结构进行特定的改造使测试仪可安装在其相应位置完成测试工作。通过实际试验测得了完整的三轴加速度曲线,验证了转管武器加速度测试系统的可靠性,为凸轮曲线、机心的改进设计提供了有效的实验数据。

一种16位专用微控器存储器接口取指逻辑的设计

为了弥合微控器和存储器的速度差,加速复杂指令集微控器取指过程,在存储器接口处设计了从PC,从而加速CPU的取指过程,并给出了从PC的电路结构.进一步详细介绍了主PC和从PC配合取指的过程,并对从PC进行了功能验证和性能分析,结果表明,采用从PC技术能有效加速CPU的取指过程.

多次可编程非易失性存储器的数据保持能力测试及其激活能分析

基于180 nm BCD工艺平台设计开发了32 Kibit的多次可编程(MTP)非易失性存储器(NVM)。详细描述了存储单元的结构设计特点、操作机理及影响非易失性的关键因素。测试并量化了其在高温条件下的数据保持能力,并根据Arrhenius模型设计了高温老化试验,进而计算其浮栅上电荷泄漏的激活能。经过10^(4)次重复编程和擦除循环后,MTP NVM样品的高温数据保持(HTDR)能力验证结果表明该MTP NVM产品具有很好的可靠性。通过高温老化加速试验,计算出分别在100、125和150℃条件下样品的数据保持时间,并对1/T与数据保持时间曲线进行数学拟合,计算出在该180 nm BCD工艺平台下浮栅上电荷泄漏的激活能。

过辐照、加速退火及离散性对存储器电参数的影响研究

研究了过辐照和加速退火对存储器TID试验结果的影响,研究结果表明,额外50%剂量辐射和高温100℃168h退火是严格考核空间辐射环境下存储器TID效应的必要试验步骤。分析器件本身的离散性对TID试验结果的影响,提出在辐射前,对器件进行初始数据测试,得出器件参数的标准偏差。通过剔除使标准偏差明显变大的器件,可以减小存储器辐照后的离散性。综述分析了NASA报告中描述的TID试验结果,得出了存储器辐射后进行电参数测试时,"读"、"写"、"擦"模式的综合测试,比只"读"模式的测试更全面的反应出器件被辐射后的退化特性,并总结出了存储器辐射后电参数测试时应遵循的测试顺序。