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智能卡COS芯片层模块设计与测试方案研究
被引量:
2
1
作者
张李静
张秋燕
《现代电子技术》
2009年第4期27-30,共4页
设计了智能卡操作系统底层驱动模块和FLASH读写模块,并提出针对这些模块函数的测试方案。首先介绍智能卡操作系统的基本概念和智能卡硬件的基本结构;然后以接触式智能卡为例,从芯片的硬件结构出发,提出COS操作系统通信和硬件模块以及操...
设计了智能卡操作系统底层驱动模块和FLASH读写模块,并提出针对这些模块函数的测试方案。首先介绍智能卡操作系统的基本概念和智能卡硬件的基本结构;然后以接触式智能卡为例,从芯片的硬件结构出发,提出COS操作系统通信和硬件模块以及操作系统的异常处理机制的设计方案,并提出一种操作系统底层的测试方案,即Testing COS。这里从COS性能的角度出发设计底层模块,并提出针对底层模块函数的测试方案。
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关键词
操作系统
ISO7816-3
测试模块
testingcos
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职称材料
题名
智能卡COS芯片层模块设计与测试方案研究
被引量:
2
1
作者
张李静
张秋燕
机构
天津理工大学电子信息与通信工程学院
出处
《现代电子技术》
2009年第4期27-30,共4页
文摘
设计了智能卡操作系统底层驱动模块和FLASH读写模块,并提出针对这些模块函数的测试方案。首先介绍智能卡操作系统的基本概念和智能卡硬件的基本结构;然后以接触式智能卡为例,从芯片的硬件结构出发,提出COS操作系统通信和硬件模块以及操作系统的异常处理机制的设计方案,并提出一种操作系统底层的测试方案,即Testing COS。这里从COS性能的角度出发设计底层模块,并提出针对底层模块函数的测试方案。
关键词
操作系统
ISO7816-3
测试模块
testingcos
Keywords
operating system
ISO7816 - 3
testing module
Testing COS
分类号
TP368.1 [自动化与计算机技术—计算机系统结构]
下载PDF
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题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
智能卡COS芯片层模块设计与测试方案研究
张李静
张秋燕
《现代电子技术》
2009
2
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