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数字IC芯片的检测方与诊断技术
被引量:
1
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作者
赵建超
王伟
吕俊霞
《电子技术(上海)》
2007年第11期195-197,共3页
在采用数字电路的各种设备中,数字IC的应用很广。那么,正确的检测数字IC芯片的性能,诊断数字集成电路的故障所在,就显得比较重要。
关键词
集成电路
ic
芯片
故障
检测
诊断
原文传递
题名
数字IC芯片的检测方与诊断技术
被引量:
1
1
作者
赵建超
王伟
吕俊霞
机构
河南工业职业技术学院计算机工程系
河南工业职业技术学院电气工程系
出处
《电子技术(上海)》
2007年第11期195-197,共3页
文摘
在采用数字电路的各种设备中,数字IC的应用很广。那么,正确的检测数字IC芯片的性能,诊断数字集成电路的故障所在,就显得比较重要。
关键词
集成电路
ic
芯片
故障
检测
诊断
Keywords
the integrated circuit
,
the ic chip
,
break down
,
examine
,
examine a patient
分类号
TN405 [电子电信—微电子学与固体电子学]
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题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
数字IC芯片的检测方与诊断技术
赵建超
王伟
吕俊霞
《电子技术(上海)》
2007
1
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