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脉冲激光沉积Ti_(50)Ni_(36)Cu_(14)薄膜的成分均匀性
1
作者
李亚东
骆苏华
高伟健
《材料科学与工程学报》
CAS
CSCD
北大核心
2005年第1期45-47,共3页
采用脉冲激光沉积 (PLD)技术制备了Ti50 Ni36 Cu1 4合金薄膜。研究表明 ,PLD合金薄膜的成分与沉积距离(基片 靶间距 )、激光脉冲频率有较大关系。当沉积距离 (D)为 2 0~ 30mm时 ,可获得成分均匀稳定的合金薄膜 ;当其它条件相同 ,激光...
采用脉冲激光沉积 (PLD)技术制备了Ti50 Ni36 Cu1 4合金薄膜。研究表明 ,PLD合金薄膜的成分与沉积距离(基片 靶间距 )、激光脉冲频率有较大关系。当沉积距离 (D)为 2 0~ 30mm时 ,可获得成分均匀稳定的合金薄膜 ;当其它条件相同 ,激光脉冲频率 (F)为 5Hz时 ,合金薄膜与靶成分更为接近。采用PLD技术制备的Ti50 Ni36 Cu1 4合金薄膜成分均匀性较好 ,同时与磁控溅射薄膜相比PLD薄膜的平均成分更加接近靶体。采用本工艺获得的Ti50 Ni36 Cu1 4薄膜的平均成分为 4 7.5 3at.%Ti、38.90at.%Ni和 13.5 7at.%Cu。
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关键词
PLD技术
ti50ni36cut14
合金薄膜
成分均匀性
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职称材料
题名
脉冲激光沉积Ti_(50)Ni_(36)Cu_(14)薄膜的成分均匀性
1
作者
李亚东
骆苏华
高伟健
机构
苏州大学材料科学工程学院
中科院上海微系统与信息技术研究所
苏州大学分析测试中心
出处
《材料科学与工程学报》
CAS
CSCD
北大核心
2005年第1期45-47,共3页
基金
江苏省教育厅指导性项目 (0 1KJD430 0 0 1 1 )
文摘
采用脉冲激光沉积 (PLD)技术制备了Ti50 Ni36 Cu1 4合金薄膜。研究表明 ,PLD合金薄膜的成分与沉积距离(基片 靶间距 )、激光脉冲频率有较大关系。当沉积距离 (D)为 2 0~ 30mm时 ,可获得成分均匀稳定的合金薄膜 ;当其它条件相同 ,激光脉冲频率 (F)为 5Hz时 ,合金薄膜与靶成分更为接近。采用PLD技术制备的Ti50 Ni36 Cu1 4合金薄膜成分均匀性较好 ,同时与磁控溅射薄膜相比PLD薄膜的平均成分更加接近靶体。采用本工艺获得的Ti50 Ni36 Cu1 4薄膜的平均成分为 4 7.5 3at.%Ti、38.90at.%Ni和 13.5 7at.%Cu。
关键词
PLD技术
ti50ni36cut14
合金薄膜
成分均匀性
Keywords
PLD technology
Ti_ 50Ni_ 36Cu_ 14
alloy film
composition uniformity
分类号
TN248.2 [电子电信—物理电子学]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
脉冲激光沉积Ti_(50)Ni_(36)Cu_(14)薄膜的成分均匀性
李亚东
骆苏华
高伟健
《材料科学与工程学报》
CAS
CSCD
北大核心
2005
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职称材料
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