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从光电子峰的背景信号获得成分深度分布信息:Tougaard背景拟合方法 被引量:1
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作者 季振国 朱玲 《真空科学与技术》 CSCD 北大核心 2002年第6期454-458,共5页
光电子谱中的背景信号包含样品的信息 ,但过去往往被忽略。实际上通过分析背景信号 ,可以获得成分随深度分布等信息。本文介绍Tougaard背景拟合法及其在光电子谱深度剖析中的应用。
关键词 光电子峰 深度分布 tougaard背景拟合方法 光电子谱 背景 信号分析 材料 表面分析
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一种被动声呐信号检测的低虚警率方法 被引量:8
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作者 张晓勇 罗来源 《声学学报》 EI CSCD 北大核心 2013年第4期467-471,共5页
针对被动声呐多目标信号检测中的噪声背景归一化问题,提出了一种基于数学形态学滤波的噪声背景归一化新方法。该方法利用数学形态学处理中的膨胀和腐蚀算子,以及基于多项式拟合的数据均值估计方法,构造出了一种能够较为准确的估计噪声... 针对被动声呐多目标信号检测中的噪声背景归一化问题,提出了一种基于数学形态学滤波的噪声背景归一化新方法。该方法利用数学形态学处理中的膨胀和腐蚀算子,以及基于多项式拟合的数据均值估计方法,构造出了一种能够较为准确的估计噪声门限的方法,并以之进行噪声背景归一化,在较好保留信号信息的前提下较大程度的抑制了噪声,有效降低了多目标信号检测的虚警概率。通过计算机仿真对比了该算法与S3PM算法、OTA算法的性能,结果表明该噪声背景归一化算法能够在检测概率损失较小的情况下较大幅度地降低检测的虚警率。实际被动声呐数据处理的对比结果同样验证了该算法的有效性。 展开更多
关键词 目标信号检测 被动声呐 虚警率 数学形态学处理 噪声背景 估计方法 形态学滤波 多项式
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Iterative and accurate determination of small angle X-ray scattering background
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作者 Geng Wang Li-Feng Xu +5 位作者 Jian-Lei Shen Guang-Bao Yao Zhi-Lei Ge Wen-Qin Li Chun-Hai Fan Gang Chen 《Nuclear Science and Techniques》 SCIE CAS CSCD 2016年第5期109-113,共5页
X-ray scattering is widely used in material structural characterizations.The weak scattering nature,however,makes it susceptible to background noise and can consequently render the final results unreliable.In this pap... X-ray scattering is widely used in material structural characterizations.The weak scattering nature,however,makes it susceptible to background noise and can consequently render the final results unreliable.In this paper,we report an iterative method to determine X-ray scattering background and demonstrate its feasibility by small angle X-ray scattering on gold nanoparticles.This method solely relies on the correct structural modeling of the sample to separate scattering signal from background in data fitting processes,which allows them to be immune from experimental uncertainties.The importance of accurate determination of the scaling factor for background subtraction is also illustrated. 展开更多
关键词 小角X射线散射 迭代方法 精确测定 背景噪声 数据 结构建模 不确定性 准确测定
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