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横向光热偏转技术检测双硫腙(H_2Dz)固体试样光谱特性
1
作者
肖季驹
林太基
+1 位作者
程祖良
赖奇略
《分析测试学报》
CAS
CSCD
1995年第1期25-28,共4页
用横向光热偏转技术测量双硫踪(H_2Dz)固体试样的光谱特性及H_2Dz的浓度与横向光热偏转幅度之间的关系,检测限可达ng量级,为固体不透明材料的微量特性分析提供了一个简便的方法。
关键词
横向
光热偏转技术
双硫腙
光谱特性
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职称材料
题名
横向光热偏转技术检测双硫腙(H_2Dz)固体试样光谱特性
1
作者
肖季驹
林太基
程祖良
赖奇略
机构
香港城市理工学院应用科学系
出处
《分析测试学报》
CAS
CSCD
1995年第1期25-28,共4页
文摘
用横向光热偏转技术测量双硫踪(H_2Dz)固体试样的光谱特性及H_2Dz的浓度与横向光热偏转幅度之间的关系,检测限可达ng量级,为固体不透明材料的微量特性分析提供了一个简便的方法。
关键词
横向
光热偏转技术
双硫腙
光谱特性
Keywords
transverse photothermal deflection techniquse
,
dithizone
,
spectral characteristics.
分类号
O623.542 [理学—有机化学]
O657.38 [理学—分析化学]
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职称材料
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作者
出处
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1
横向光热偏转技术检测双硫腙(H_2Dz)固体试样光谱特性
肖季驹
林太基
程祖良
赖奇略
《分析测试学报》
CAS
CSCD
1995
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