U-Ti合金的奥氏体晶粒度检测技术

探索了淬火态U-Ti合金的奥氏体晶界显示方法,并依据GB/T 6394—2002和GB/T21865—2008,利用光学金相图像分析仪测定了典型制备工艺下U-Ti合金的平均奥氏体晶粒度。结果表明:采用先将U-Ti合金在500℃保温1h进行晶界析出敏化处理,再使用体积分数为95%的磷酸溶液可以清晰完整地显示U-Ti合金的奥氏体晶界;平均晶粒面积法和截线法测得的U-Ti合金的晶粒度级别指数近似;以截线法作为仲裁法,典型制备工艺下U-Ti合金的奥氏体晶粒度级别指数为2.84±0.16,平均截距为(119.74±6.97)μm。