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U-Ti合金的奥氏体晶粒度检测技术
被引量:
1
1
作者
唐县娥
陈向林
+2 位作者
申亮
张丽
徐云生
《理化检验(物理分册)》
CAS
2013年第4期229-232,共4页
探索了淬火态U-Ti合金的奥氏体晶界显示方法,并依据GB/T 6394—2002和GB/T21865—2008,利用光学金相图像分析仪测定了典型制备工艺下U-Ti合金的平均奥氏体晶粒度。结果表明:采用先将U-Ti合金在500℃保温1h进行晶界析出敏化处理,再使用...
探索了淬火态U-Ti合金的奥氏体晶界显示方法,并依据GB/T 6394—2002和GB/T21865—2008,利用光学金相图像分析仪测定了典型制备工艺下U-Ti合金的平均奥氏体晶粒度。结果表明:采用先将U-Ti合金在500℃保温1h进行晶界析出敏化处理,再使用体积分数为95%的磷酸溶液可以清晰完整地显示U-Ti合金的奥氏体晶界;平均晶粒面积法和截线法测得的U-Ti合金的晶粒度级别指数近似;以截线法作为仲裁法,典型制备工艺下U-Ti合金的奥氏体晶粒度级别指数为2.84±0.16,平均截距为(119.74±6.97)μm。
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关键词
u—ti合金
奥氏体晶粒度
晶界析出敏化法
截距法
面积法
下载PDF
职称材料
题名
U-Ti合金的奥氏体晶粒度检测技术
被引量:
1
1
作者
唐县娥
陈向林
申亮
张丽
徐云生
机构
中国工程物理研究院
出处
《理化检验(物理分册)》
CAS
2013年第4期229-232,共4页
基金
中物院资助项目(JK070102-3)
文摘
探索了淬火态U-Ti合金的奥氏体晶界显示方法,并依据GB/T 6394—2002和GB/T21865—2008,利用光学金相图像分析仪测定了典型制备工艺下U-Ti合金的平均奥氏体晶粒度。结果表明:采用先将U-Ti合金在500℃保温1h进行晶界析出敏化处理,再使用体积分数为95%的磷酸溶液可以清晰完整地显示U-Ti合金的奥氏体晶界;平均晶粒面积法和截线法测得的U-Ti合金的晶粒度级别指数近似;以截线法作为仲裁法,典型制备工艺下U-Ti合金的奥氏体晶粒度级别指数为2.84±0.16,平均截距为(119.74±6.97)μm。
关键词
u—ti合金
奥氏体晶粒度
晶界析出敏化法
截距法
面积法
Keywords
u
-
ti
alloy
a
u
steni
ti
c grain size
grain bo
u
ndary sensi
ti
za
ti
on treatment method
intercep
ti
on rnethod
area method
分类号
TG146.8 [金属学及工艺—金属材料]
下载PDF
职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
U-Ti合金的奥氏体晶粒度检测技术
唐县娥
陈向林
申亮
张丽
徐云生
《理化检验(物理分册)》
CAS
2013
1
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职称材料
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参考文献
引证文献
统计分析
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