超高频(UHF)芯片测试的管理优化研究

本文主要阐述基于应用管理科学的理论和方法来研究芯片测试项目管理,并提出优化芯片测试项目管理的建议。研究发现M(上海集成电路技术与产业促进中心检测实验室)检测实验室在UHF芯片检测项目中存在管理问题,因此提出了基于管理学模型的优化方案,从而提高M检测实验室在UHF芯片检测项目上的效率。

无源RFID标签芯片灵敏度测试方法研究

提出一种测试UHF频段无源RFID标签芯片灵敏度的方法。该方法依据矢量网络分析仪和标签测试仪接口特性阻抗相同的特性,利用矢量网络分析仪测试标签芯片的反射系数,然后通过标签测试仪测试芯片和仪器接口的匹配损耗,进而计算标签芯片的灵敏度。利用该方法对NXP_G2XM芯片和Impinj_Monza3芯片在800～1 000MHz频段内灵敏度进行测试,并将测试结果与datasheet进行对照,分析误差产生的原因,最终证明此方法的准确性。该测试方法采用常规仪器对800～1 000MHz频段内灵敏度进行测试,有重要实际意义。