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双环电化学动电位再活化法评价UNS N08811的晶间腐蚀敏感性 被引量:3
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作者 钟强 钱炯 +5 位作者 周宇宾 朱建平 王宝顺 吕越 张洁洁 WANG Chun 《材料保护》 CAS CSCD 2021年第3期23-27,45,共6页
目前对UNS N08811合金晶间腐蚀性能的研究较少。为此,采用双环电化学动电位再活化法(DLEPR),表征UNS N08811合金的晶间腐蚀敏感性,研究介质成分、试验温度、扫描速率及钝化回扫电位对测试结果的影响,优选出合适的试验参数(试验介质:0.5 ... 目前对UNS N08811合金晶间腐蚀性能的研究较少。为此,采用双环电化学动电位再活化法(DLEPR),表征UNS N08811合金的晶间腐蚀敏感性,研究介质成分、试验温度、扫描速率及钝化回扫电位对测试结果的影响,优选出合适的试验参数(试验介质:0.5 mol/L H_(2)SO_(4)+0.005 mol/L KSCN,试验温度:30℃,扫描速率:6V/h,钝化回扫电位:0.4 V)。使用优化后的DL-EPR法和化学浸泡法测试不同敏化时间对UNS N08811合金晶间腐蚀敏感性的影响。结果一致表明:随着敏化时间的延长,UNS N08811合金晶间腐蚀敏感性逐渐增大;优化后的DL-EPR法可快速定量评价UNS N08811合金的晶间腐蚀敏感性且具有良好的重现性。 展开更多
关键词 uns n08811 双环电化学动电位再活化法 晶间腐蚀
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