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由工业V_2O_5制取VO_2薄膜 被引量:7
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作者 杨绍利 徐楚韶 +1 位作者 陈厚生 胡再勇 《钢铁钒钛》 CAS 北大核心 2002年第2期7-10,共4页
以工业V2 O5为原料 ,采用N2 热分解法在普通玻璃和石英玻璃衬底上制备VO2 薄膜 ,在自制的电阻 -温度测量装置上测量VO2 薄膜的电阻随温度的变化。结果表明 :VO2 薄膜具有明显电阻突变特性 ,其相变达到了 1.5~ 2 .0个数量级 ,相变温度约... 以工业V2 O5为原料 ,采用N2 热分解法在普通玻璃和石英玻璃衬底上制备VO2 薄膜 ,在自制的电阻 -温度测量装置上测量VO2 薄膜的电阻随温度的变化。结果表明 :VO2 薄膜具有明显电阻突变特性 ,其相变达到了 1.5~ 2 .0个数量级 ,相变温度约为 35℃ ;VO2 薄膜的主要成分是二氧化钒 ,同时含有少量其它的钒化合物。 展开更多
关键词 v2o5 vO2 薄膜 热分解 M-S相变
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Li^+离子嵌入V_2O_5干凝胶薄膜的XPS研究 被引量:4
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作者 胡勇胜 陈文 +1 位作者 徐庆 郜定山 《硅酸盐通报》 CAS CSCD 2001年第3期62-65,共4页
V2 O5薄膜是最具有实用价值的全固态“灵巧窗”器件中候选锂离子储存材料之一。本研究采用熔融淬冷法成功制备了V2 O5溶胶 ,利用提拉法在ITO玻璃片上制备了表面均匀和无裂纹的V2 O5干凝胶薄膜 ,并采用电化学方法将Li+ 离子嵌入到V2 O5... V2 O5薄膜是最具有实用价值的全固态“灵巧窗”器件中候选锂离子储存材料之一。本研究采用熔融淬冷法成功制备了V2 O5溶胶 ,利用提拉法在ITO玻璃片上制备了表面均匀和无裂纹的V2 O5干凝胶薄膜 ,并采用电化学方法将Li+ 离子嵌入到V2 O5干凝胶薄膜中。本文着重采用X射线光电子能谱 (XPS)分析了Li+ 离子嵌入V2 O5干凝胶薄膜前后的化学组成及钒、氧。 展开更多
关键词 溶胶-凝胶法 W2o5 干凝胶薄膜 XPS 锂离子嵌入 五氧化二钒
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工业五氧化二钒制备V_2O_5半导体薄膜分析 被引量:1
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作者 杨绍利 徐楚韶 +1 位作者 陈厚生 胡再勇 《重庆大学学报(自然科学版)》 EI CAS CSCD 北大核心 2002年第5期97-100,共4页
用攀钢工业V2 O5为原料采用无机溶胶 -凝胶法制备V2 O5溶胶和凝胶 ,并用此胶体在不同衬底上制备出透明的半导体V2 O5薄膜。研究了胶体粘度对涂膜的影响 ,以及薄膜电阻率与温度、烘干处理和厚度的关系。用扫描电子显微镜 (SEM)研究了薄... 用攀钢工业V2 O5为原料采用无机溶胶 -凝胶法制备V2 O5溶胶和凝胶 ,并用此胶体在不同衬底上制备出透明的半导体V2 O5薄膜。研究了胶体粘度对涂膜的影响 ,以及薄膜电阻率与温度、烘干处理和厚度的关系。用扫描电子显微镜 (SEM)研究了薄膜的微观形貌 ,用XRD研究了薄膜的成份及其变化。结果表明 :胶体粘度对涂膜有较大影响 ;温度、湿份、薄膜厚度对薄膜电阻率均有较大影响 ;V2 O5薄膜由针状V2 O5颗粒组成 ,在衬底上呈均匀分布 ,且结构比较密集 ,其颗粒径向尺寸为 0 .5~ 1.0 μm ,长度方向为 3 0~ 5 0 μm。烘干处理后颗粒轮廓略有模糊、结构稀疏且尺寸有所长大 ,同时新生成了一些钒化合物。 展开更多
关键词 v2o5 溶胶-凝胶法 薄膜 电阻率
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Sol-Gel V_2O_5薄膜的成膜和取向研究 被引量:1
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作者 袁宁一 李金华 林成鲁 《江苏石油化工学院学报》 2001年第4期1-3,共3页
采用溶胶 -凝胶法在SiO2 /Si衬底上沉积V2 O5薄膜 ,详细介绍了对衬底表面作亲水处理的方法。以不同浓度溶胶 ,在不同温度和不同气氛下对薄膜进行热处理 ,得到以〈0 0 1〉向为主取向的高取向薄膜 ,从理论上解释了V2 O5薄膜的取向机理 。
关键词 溶胶-凝胶法 v2o5薄膜 结晶取向 氧化钒 衬底 沉积 热蒸发
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TiO_2-x(V_2O_5)纳米复合薄膜的光吸收
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作者 夏长生 吴广明 +1 位作者 沈军 张志华 《同济大学学报(自然科学版)》 EI CAS CSCD 北大核心 2004年第8期1111-1115,共5页
采用溶胶 -凝胶技术 ,以Ti(C4H9O) 4 和V2 O5粉末为原材料制备了纳米结构的TiO2 -x(V2 O5) (x为V2 O5的质量分数 ,分别为 10 % ,2 0 % ,30 % ,10 0 % )复合薄膜 .采用原子力显微镜观察薄膜的表面形貌 ;使用UV VIS NIR分光光度计测量了... 采用溶胶 -凝胶技术 ,以Ti(C4H9O) 4 和V2 O5粉末为原材料制备了纳米结构的TiO2 -x(V2 O5) (x为V2 O5的质量分数 ,分别为 10 % ,2 0 % ,30 % ,10 0 % )复合薄膜 .采用原子力显微镜观察薄膜的表面形貌 ;使用UV VIS NIR分光光度计测量了复合薄膜在紫外 -可见光波段的透射率和反射率光谱 ,研究其光吸收特性 .实验结果表明 :复合薄膜具有纳米颗粒结构 ;随着V2 O5用量的增加 ,复合薄膜在紫外光区的吸收逐渐增加 ,(αhv) 1/ 2 与hv存在线性关系 ,光学带隙由纯TiO2 的 3.36eV减小为x =30 %时的 2 .83eV ,光学带隙与x满足Eg(x) =Eg(0 ) +[Eg(1)-Eg(0 ) -b]x +bx2 关系式 ;复合薄膜光吸收边缘红移起因于V2 O5复合后薄膜中定域态宽度的增加 . 展开更多
关键词 TiO2-x(v2o5)纳米复合薄膜 溶胶-凝胶法 光吸收 光学带隙
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脉冲溅射V_2O_5薄膜结构和性能研究 被引量:4
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作者 许旻 贺德衍 《光学学报》 EI CAS CSCD 北大核心 2004年第6期743-746,共4页
V2 O5薄膜具有很好的离子注入 /退出可逆性 ,是最有潜力的锂离子储存层的候选材料之一。它的电学特性与制备方法、化学计量比、结构和取向等有直接关系 ,仔细控制工艺参量是制备出在锂电池上应用的V2 O5薄膜关键。研究中采用脉冲磁控反... V2 O5薄膜具有很好的离子注入 /退出可逆性 ,是最有潜力的锂离子储存层的候选材料之一。它的电学特性与制备方法、化学计量比、结构和取向等有直接关系 ,仔细控制工艺参量是制备出在锂电池上应用的V2 O5薄膜关键。研究中采用脉冲磁控反应溅射方法 ,通过精确地控制氧分压、基底温度等关键工艺参量 ,在石英玻璃和硅片上制备V2 O5薄膜。利用X射线衍射和X射线光电子谱 ,分析了薄膜的成分、相结构、结晶和价态情况 ,用原子力显微镜表征了薄膜的微观结构 ,用分光光度计测量从 2 0 0~ 2 5 0 0nm波段V2 O5薄膜的透射和反射光谱 ,对薄膜的电学性能也进行了测量和分析。结果表明 ,V2 O5薄膜纯度高、相结构单一、结晶度好。高低温电阻变化 2个量级 ,薄膜的光学能隙为 2 .4 6eV。 展开更多
关键词 氧化钒薄膜 薄膜结构 脉冲磁控反应溅射法 原子力显微镜表征 结晶度 光学能隙 电学性质
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