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变间距光栅刻线密度的测试精度分析 被引量:14
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作者 陈锵 王秋平 +2 位作者 余小江 周洪军 王琪民 《核技术》 CAS CSCD 北大核心 2001年第7期557-563,共7页
介绍了衍射法测量变间距光栅线密度的测量系统。该测量系统由激光器、准直镜、光栅转动台(含角度测量仪)、直线工作台、光栅调节架、探测器和待测光栅组成。分析了系统中各种误差对测量精度的影响,以及变间距光栅参数的变化对光学系... 介绍了衍射法测量变间距光栅线密度的测量系统。该测量系统由激光器、准直镜、光栅转动台(含角度测量仪)、直线工作台、光栅调节架、探测器和待测光栅组成。分析了系统中各种误差对测量精度的影响,以及变间距光栅参数的变化对光学系统的影响和补偿办法。计算表明,该系统的测试精度满足光束线对光学系统的性能要求。 展开更多
关键词 变间距光栅 单色器 刻线密度 同步辐射 测试精度 衍射法
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自由电子激光器用极紫外波段平面变栅距光栅 被引量:6
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作者 姜岩秀 巴音贺希格 +2 位作者 赵旭龙 杨硕 吴娜 《光学精密工程》 EI CAS CSCD 北大核心 2015年第8期2117-2124,共8页
针对极紫外波段自由电子激光器(大连相干光源,DCLS)对高分辨能力平面变栅距光栅的需求,基于光程差以及像差原理构建了极紫外平面变栅距全息光栅。采用改进的局部优化算法给出了平面变栅距光栅的记录参数,利用全息曝光技术在硅光栅基... 针对极紫外波段自由电子激光器(大连相干光源,DCLS)对高分辨能力平面变栅距光栅的需求,基于光程差以及像差原理构建了极紫外平面变栅距全息光栅。采用改进的局部优化算法给出了平面变栅距光栅的记录参数,利用全息曝光技术在硅光栅基底上制作了中心刻线密度为600gr/mm、占宽比为0.46、槽深为550nm、有效刻划面积为30mm×30mm的极紫外平面变栅距全息光栅。采用Littrow衍射法测量了平面变栅距光栅的刻线密度,并基于像差理论分析了平面变栅距光栅的理论分辨能力。结果表明:制作的600gr/mm平面变栅距光栅在有效面积内的刻线密度误差小于0.175gr/mm,在极紫外波段(50-150nm)的分辨能力大于12 000,满足自由电子激光器的设计要求。提出的设计及制作方法为制作高质量平面变栅距光栅提供了理论及技术保障。 展开更多
关键词 自由电子激光器 平面变栅距光栅 全息曝光 刻线密度误差 分辨能力
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在线诊断光谱仪用光栅制作误差对光谱成像的影响及补偿 被引量:2
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作者 姜岩秀 巴音贺希格 +3 位作者 杨硕 赵旭龙 吴娜 李文昊 《光谱学与光谱分析》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 2016年第3期857-863,共7页
为制作应用于在线诊断光谱仪的高分辨率光栅,通过分析记录参数误差对光栅刻线密度、聚焦曲线、谱像宽度等的影响及规律,提出相应的补偿方法是必要前提。基于费马原理、光程差理论及像差理论,分析了光栅光谱性能对记录参数误差的影响及... 为制作应用于在线诊断光谱仪的高分辨率光栅,通过分析记录参数误差对光栅刻线密度、聚焦曲线、谱像宽度等的影响及规律,提出相应的补偿方法是必要前提。基于费马原理、光程差理论及像差理论,分析了光栅光谱性能对记录参数误差的影响及其敏感性。在光栅使用参数固定的情况下,记录角度误差对光谱性能影响较大,在光栅设计时可通过对记录角度加权的方法来提高记录角度的取值的精确度;记录臂长误差对光谱性能影响较小;记录臂长和记录角度的相对误差决定了其对光栅光谱性能影响程度。结果表明,单侧记录臂长和角度误差对光谱性能的影响,可分别通过调节两臂臂长及角度的相对误差进行补偿。由此可以确定对应用于在线监测光谱仪光栅成像质量影响较大的误差因素,并给出制作误差的相应补偿方法,降低曝光系统的调试难度,为制作在线诊断光谱仪用高分辨率光栅提供理论指导。 展开更多
关键词 平面变栅距全息光栅 分辨率 刻线密度误差 聚焦曲线 谱像宽度
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