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题名VLSI版图验证系统中参数提取方法的研究
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作者
胡庆生
林争辉
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机构
上海交通大学大规模集成电路研究所
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出处
《微电子学与计算机》
CSCD
北大核心
1997年第3期38-41,共4页
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基金
国家"八五"攻关课题
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文摘
本文研究了VLSI版图验证系统中电阻及电容提取的方法，总结了各种方法的优缺点，并给出了当前参数提取方面的研究动向和发展趋势。
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关键词
VLSI
CAD
版图验证
参数
提取
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Keywords
vlsi-cad, layout verification,parameter extraction
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分类号
TN470.2
[电子电信—微电子学与固体电子学]
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题名CMOS标准单元后仿真及其时序信息的建立
被引量：2
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作者
晁长征
吴龙胜
刘佑宝
唐威
赵德益
苏强
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机构
西安微电子技术研究所
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出处
《微电子学与计算机》
CSCD
北大核心
2009年第5期83-86,91,共5页
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基金
西安-应用材料创新基金资助项目(XA-AM-200606)
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文摘
时序信息是标准单元特征化参数的重要组成部分.针对全定制标准单元的版图,在进行LVS验证之后,采用寄生参数提取工具对其进行晶体管级的寄生参数提取,得到单元内部的详细寄生电容和电阻值.提出了一种建立标准单元时序信息的方法,并以一个具体标准单元为例对其进行了版图后仿真,结果表明该法行之有效.
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关键词
标准单元
寄生参数提取
物理验证
版图后仿真
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Keywords
standard cell
parasitic parameter extraction
physical verification
post-layout simulation
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分类号
TN402
[电子电信—微电子学与固体电子学]
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