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题名反应时间和温度对二氧化钒薄膜生长影响研究
被引量:1
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作者
肖翔
冯林
邹继军
郭喜涛
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机构
东华理工大学机械与电子工程学院
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出处
《电子质量》
2020年第2期48-52,共5页
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文摘
该文采用一种新型的气-固(VS)生长法合成了高质量、大面积的二氧化钒(Vanadium Oxide,VO2)薄膜。在该合成反应过程中,VO2薄膜生长的质量受诸多因素的影响。比如,生长温度、时间和气压,惰性载入气体流速,前躯体的数量,以及衬底的种类和位置等。文中系统地研究了生长时间和温度对VO2薄膜生长质量的影响,并对其进行了优化调控。利用扫描电子显微镜对该VO2薄膜进行的形貌分析表明,该VO2薄膜是由尺寸不一的晶粒连接而成的多晶界薄膜,表面具有较高的平整度。单晶尺寸最大可达120μm,平均尺寸40μm。
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关键词
vs生长法
生长时间
生长温度
VO2单晶尺寸
VO2薄膜厚度
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Keywords
vs growth method
growth time
growth temperature
VO2 single crystal size
VO2 film thickness
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分类号
TB383
[一般工业技术—材料科学与工程]
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