天线辐射参数测量暗室相关问题探讨

综述了天线辐射参数测量远场暗室的检测方法,分析了自由空间电压驻波比法(VSWR法)和方向图比较法(APC法)这两种检测方法的差别;探讨了反射电平与方向图副瓣电平测量精度的关系,从而确定出满足移动通信基站天线需求的反射电平性能;推导了远场测量最小收发距离的准则,并进一步推导了远场测量距离不足时的补偿算法。

微波暗室静区性能测量及影响因素分析

在天线、雷达等无线通信产品和电子设备的测试中,微波暗室是一个理想的场所,在民用、军事及专项工程领域得到了广泛应用,如何评估暗室的静区性能也变得愈发重要。基于测量静区反射电平的自由空间电压驻波比(VSWR法),给出了测量原理和具体的测量过程,以及测量系统的布置方案,并通过测量实例进行验证。结合实际测量中出现的问题,对可能影响测量结果的因素和需要注意的问题进行了分析,并提出了相应的解决方案,对微波暗室的日常使用维护和微波暗室性能测量系统的组建具有一定的参考价值。