VXI可编程开关及其在自动测试设备中的应用

引言 在ATE(自动测试设备)设计中,开关和开关系统往往是最容易被低估和忽视的部分。没有好的开关结构,将使系统中的仪器起不到应有的作用。实际上为了获得高的性能,真正的困难发生在:将被测装置连接到测试系统上时,如何获得透明的转接性能。总之,通道的质量是系统性能的一个重要因素。