利用VoltageStorm和APSI工具进行chip-package静态电源分析

目前的片上系统(SoC)设计特点是持续增大的芯片尺寸,集成更多的IP模块,多种电源电压供电,以及封装对供电电压的影响,这加大了不可预测的电压降带来芯片失败的风险。为降低此风险,可使用Cadence公司的SoC电源完整性分析和验证工具VoltageStorm,并结合APSI提取的封装模型,进行chip-package电源完整性分析。本文将结合实际设计项目,介绍利用Cadence公司VoltageStorm和APSI工具进行chip-package电源完整性分析的具体实现。