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Al(111)表面单个Al原子的操纵── W针尖与Al原子的相互作用
被引量:
5
1
作者
王福合
杨金龙
李家明
《物理学报》
SCIE
EI
CAS
CSCD
北大核心
1998年第11期1827-1839,共13页
为了较清楚地阐明扫描隧道显微镜针尖在样品表面原子操纵中的具体作用,根据第一性原理的离散变分理论计算,采用“团簇模型”研究了在无外加电场下,W针尖与样品Al(111)表面Al原子的相互作用.结果表明:随着W针尖与样品表...
为了较清楚地阐明扫描隧道显微镜针尖在样品表面原子操纵中的具体作用,根据第一性原理的离散变分理论计算,采用“团簇模型”研究了在无外加电场下,W针尖与样品Al(111)表面Al原子的相互作用.结果表明:随着W针尖与样品表面接近到一定程度(针尖与样品表面的距离S≤10a.u.(053nm))时,由于针尖原子与样品表面原子的相互作用,使位于针尖正下方的表面Al原子在脱离表面时感受到一稳定的势阱,即在无外场的情况下,当W针尖与样品Al(111)表面接近到一定程度时,由于针尖的吸引作用,将使针尖正下方的Al原子自动离开样品表面而移向W针尖,实现Al(111)表面单个Al原子的操纵.
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关键词
固体表面结构
铝原子
w针尖
原子操纵
STM
原文传递
两种纳米级针尖的制作和应用
被引量:
2
2
作者
张友生
闫允杰
朱静
《电子显微学报》
CAS
CSCD
北大核心
2004年第4期483-483,共1页
关键词
JEOL
6301F扫描电子显微镜
纳米操纵台
针尖
制作
多壁碳纳米管
针尖
纳米级
w针尖
下载PDF
职称材料
交流电腐蚀方法制备STM探针
3
作者
朱阁悠
臧侃
《大连交通大学学报》
CAS
2018年第6期76-81,共6页
采用交流电化学腐蚀法来制备扫描隧道显微镜(Scanning Tunneling Microscope,简称STM)所需要的钨(W)材料针尖,代替了传统的直流断落法,首先细致研究了电压、浸入深度、频率、反相电压、溶液浓度等参数对探针制备成功率的影响,其次根据...
采用交流电化学腐蚀法来制备扫描隧道显微镜(Scanning Tunneling Microscope,简称STM)所需要的钨(W)材料针尖,代替了传统的直流断落法,首先细致研究了电压、浸入深度、频率、反相电压、溶液浓度等参数对探针制备成功率的影响,其次根据实验结果确定了最佳参数值,在显微镜下观察了W针尖的形成过程,并且对实验制备的针尖进行优化处理,W针尖在STM下扫描Si(111)-7×7重构表面获得了原子分辨图像,该方法为针尖的制备提供了一条新的思路.
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关键词
交流电化学腐蚀法
w针尖
扫描隧道显微镜
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职称材料
题名
Al(111)表面单个Al原子的操纵── W针尖与Al原子的相互作用
被引量:
5
1
作者
王福合
杨金龙
李家明
机构
清华大学现代应用物理系单原子分子测控科学中心
中国科学院物理研究所
中国科学技术大学基础物理中心
出处
《物理学报》
SCIE
EI
CAS
CSCD
北大核心
1998年第11期1827-1839,共13页
基金
国家攀登计划
国家自然科学基金
文摘
为了较清楚地阐明扫描隧道显微镜针尖在样品表面原子操纵中的具体作用,根据第一性原理的离散变分理论计算,采用“团簇模型”研究了在无外加电场下,W针尖与样品Al(111)表面Al原子的相互作用.结果表明:随着W针尖与样品表面接近到一定程度(针尖与样品表面的距离S≤10a.u.(053nm))时,由于针尖原子与样品表面原子的相互作用,使位于针尖正下方的表面Al原子在脱离表面时感受到一稳定的势阱,即在无外场的情况下,当W针尖与样品Al(111)表面接近到一定程度时,由于针尖的吸引作用,将使针尖正下方的Al原子自动离开样品表面而移向W针尖,实现Al(111)表面单个Al原子的操纵.
关键词
固体表面结构
铝原子
w针尖
原子操纵
STM
分类号
O481 [理学—固体物理]
原文传递
题名
两种纳米级针尖的制作和应用
被引量:
2
2
作者
张友生
闫允杰
朱静
机构
清华大学材料科学与工程研究院电镜实验室
出处
《电子显微学报》
CAS
CSCD
北大核心
2004年第4期483-483,共1页
基金
国家自然科学基金资助项目 (No .90 2 0 60 46)
关键词
JEOL
6301F扫描电子显微镜
纳米操纵台
针尖
制作
多壁碳纳米管
针尖
纳米级
w针尖
分类号
TN16 [电子电信—物理电子学]
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职称材料
题名
交流电腐蚀方法制备STM探针
3
作者
朱阁悠
臧侃
机构
大连交通大学机械工程学院
出处
《大连交通大学学报》
CAS
2018年第6期76-81,共6页
基金
国家自然科学基金资助项目(5120701651477023)
文摘
采用交流电化学腐蚀法来制备扫描隧道显微镜(Scanning Tunneling Microscope,简称STM)所需要的钨(W)材料针尖,代替了传统的直流断落法,首先细致研究了电压、浸入深度、频率、反相电压、溶液浓度等参数对探针制备成功率的影响,其次根据实验结果确定了最佳参数值,在显微镜下观察了W针尖的形成过程,并且对实验制备的针尖进行优化处理,W针尖在STM下扫描Si(111)-7×7重构表面获得了原子分辨图像,该方法为针尖的制备提供了一条新的思路.
关键词
交流电化学腐蚀法
w针尖
扫描隧道显微镜
Keywords
AC electrochemical etching
tungsten tips
scanning tunneling microscope
分类号
TH742 [机械工程—光学工程]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
Al(111)表面单个Al原子的操纵── W针尖与Al原子的相互作用
王福合
杨金龙
李家明
《物理学报》
SCIE
EI
CAS
CSCD
北大核心
1998
5
原文传递
2
两种纳米级针尖的制作和应用
张友生
闫允杰
朱静
《电子显微学报》
CAS
CSCD
北大核心
2004
2
下载PDF
职称材料
3
交流电腐蚀方法制备STM探针
朱阁悠
臧侃
《大连交通大学学报》
CAS
2018
0
下载PDF
职称材料
已选择
0
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