用于X光动态形貌实验的高温样品室及其温度控制系统

为进行动态形貌实验研究，在北京同步辐射装置形貌学实验站建立了高低温样品环境室，用英国欧陆控制器组成温度控制系统，用ＰＩＤ控制和时间比例法进行温度控制，系统温度分辨率达０．０５℃。

GaAs晶体位错缺陷的同步X光透射形貌研究

利用同步X光透射形貌技术，研究了液封直拉（LEC）、水平布里支曼（HB）、垂直梯度凝固（VGF）三种生长技术制备的Φ2"晶片的位错缺陷。发现LEC晶体中缺陷明显高于HB、VGF晶体，VGF缺陷缺陷最低，HB晶体居于两者之间。结合生长界面温度梯度和杂质掺入水平，讨论了位错分布差异的原因。

北京同步辐射实验室X光形貌学研究的光源特性及实验应用

本文讨论了北京同步辐射实验室X光形貌站相应的光源特性,给出了在该状态下的形貌分辨率以及对四硼酸锂晶体白光形貌衍射强度的计算结果。

BSRF 形貌学实验站动态实验系统

介绍了ＢＳＲＦ形貌学实验站动态实验系统的各个组成部分，并着重对其控制系统、图像捕获和处理系统作了详细介绍。

BSRF白光动态形貌实验系统

介绍了北京同步辐射装置（ＢＳＲＦ）４Ｗ１Ａ光束线及白光动态形貌实验系统的各个组成部分，主要包括白光形貌相机、高低温样品环境室及其控制系统、实时观察和录制系统、图像处理和输出系统等部分。并对其部分实验结果进行了介绍。