滤波-荧光法测量X光能谱的模拟计算

介绍了滤波-荧光法测量X光能谱的本底来源和降低本底的措施,分析了信号和噪声数值计算的近似条件,以"高能尾巴"为主要本底计算了7×106K和10×106K两个温度下Ca-K、V-Ti不同厚度组合的信噪比和理想状态下PIN探测器的输出电流。

滤光片及X射线二极管响应面均匀性研究

介绍了用于软 X光能谱测量的滤光片及 X射线二极管能量响应均匀性研究。实验利用北京同步辐射装置 3W1B束线 ,流强 4 0～ 80 m A的运行条件 ,在 10 0～ 160 0 e V能区对滤光片及 X射线二极管 ( XRD)作能响曲线标定。重点对 C滤片及 Al阴极 XRD的灵敏面作能响面均匀性研究 ,最后给出响应面均匀性测量结果及计算分析。

透射光栅衍射效率研究

透射光栅广泛应用于 X光能谱测量 ,为获得定量的 X光能谱 ,首先在北京同步辐射源上对透射光栅的衍射效率在多个入射 X光能量点进行了实验标定 ,获得了透射光栅衍射效率的实验结果。为模拟透射光栅衍射效率实验标定结果 ,发展了一个新的透射光栅衍射效率计算模型 ,该模型不同于国外已发展的矩形栅线模型和梯形栅线截面模型 ,而是假设透射光栅栅线具有准梯形截面。模型计算结果与实验标定结果符合很好。