D/MAX-系列X光衍射仪用计算机软件开发

FP-6000系列微机是日本理学公司D/MAX系列X光衍射仪专用微计算机.该机硬件配置采用的是8086CPU;高分辨600 * 400彩色显示器;双软高密1.2M软盘驱动器;两个打印机接口及三个异步通讯口.另外还保留0-5个硬盘驱动器接口,在用户有特殊需要时可配接硬盘驱动器.

西门子D-500X光衍射仪及其软件介绍

一、引言 我所于1986年从西门子(Siemens)公司引进了一套D—500衍射仪,其中一台主要是用于织构测量的。D—500衍射仪在当今世界商品化的同类仪器中,堪称出类拔萃的佼佼者。仪器精度高,功能完善,全部操作和数据处理均可由计算机来实现,尤其分析软件系统被公认为是比较可靠和完整的。本文简要介绍D—500衍射仪及其与之相联的庞大的应用软件系统,使众多用户了解和熟悉它们具有那些功能和用途,籍以扩大它们的应用范围,引起更多人的兴趣。

超拉伸细化羊毛聚集态结构的研究

使用傅立叶红外光谱仪和X光衍射仪对不同加工后的超拉伸细化羊毛进行测试。结果可知 ,超拉伸细化羊毛具有独特的吸收特征峰 ,可以利用 16 2 0～ 16 30cm- 1 、15 10～ 15 2 0cm- 1 处特征峰的变化表征超拉伸细化羊毛 ;

硫磷硅毒物共存对甲醇催化剂失活的影响

本文采用电子能谱仪、X光衍射仪、BET吸附仪、原子吸收光谱仪等分析仪器 ,对硫、磷、硅共存时对甲醇催化剂中毒失活情况进行研究和剖析。结果表明 :硫、磷、硅共存时甲醇催化剂的中毒与硫或硫氯存在时甲醇催化剂的中毒明显不同 。

铝含量对铜镍电阻薄膜结构及电性能的影响

采用磁控溅射法制备了铝含量分别为 0wt% ,10wt% ,2 0wt% ,30wt %的CuNi系电阻薄膜 ,应用透射电镜(TEM )、X光衍射仪 (XRD)分析薄膜在热处理前后的晶化行为 ,结合X光电子能谱仪 (XPS)分析了膜层表面结构组成。结果表明 ,当未加入铝元素时 ,溅射态CuNi薄膜析出孤岛状分布的CuNi晶化相 ;随着铝元素加入到一定量 ,CuNi薄膜将相继分解出链状分布的细小有序相 (Cu ,Ni) 9Al4 以及呈均匀连续状态的有序相 (Cu ,Ni)Al。经大气中退火处理 ,薄膜具有与溅射态相似的晶化相结构类型 ;未加入铝元素的退火态CuNi薄膜表面主要由疏松的氧化铜构成 ,而铝含量在 10wt%以上的CuNi薄膜表面主要由致密的三氧化二铝构成。随着薄膜中铝元素增多 ,CuNi薄膜电阻率呈下降趋势 ;铝含量为 10wt%～ 2 0wt %范围的CuNi薄膜具有最小的电阻温度系数值。随热处理温度提高 ,未含铝元素CuNi薄膜电阻率有增大倾向 ,电阻温度系数变化无一定规律 ;加至一定量铝元素的CuNi系薄膜电阻率随热处理温度的提高而减少 。

品格常数精确测定经验公式的探讨

用X光衍射仪测量晶格常数已有一套较完整的理论误差修正公式。[1]但在一些特殊情况下,如利用高低温装置进行测量时,由于热胀冷缩等原因,样品表面将显著偏离X光平面,此时原有的误差修正公式已不能满足测量的需要。笔者在Y-2A型X光衍射仪上进行了一系列模拟试验。找到了一个新的误差修正项,用此误差修正项修正时,在Y—2A型X光衍射仪上,可使误差范围σ<5×10^(-4)A°,

SS400热轧带钢表面麻点缺陷攻关

针对SS40 0热轧带钢表面麻点缺陷的特征 ,分析研究了麻点缺陷产生的实质 ,同时根据已有的研究成果 ,提出了SS40 0表面麻点缺陷的解决措施 ,效果显著。

甲壳素纤维热湿性能的测试与分析

对甲壳素纤维在不同水浴温度和时间下进行热湿处理．应用DZF-6050型真空干燥箱、YG001A单纤维电子强力仪、KYKY-2800型扫描式电子纤维镜及D8DISCOVER with GADDS型X光衍射仪等对其热湿性能进行测试，并对测试结果进行分析。