X光CCD响应特性

在北京同步辐射源上建立了 X光 CCD量子效率实验标定方法 ,获得了 1 50 e V～ 1 50 0 e V能区范围多个 X光能点的量子效率实验结果 ,发展了 X光 CCD量子效率简化计算模型 ,并对 X光

基于X光CCD和小波分析的无损探伤方法的研究

用二维小波对 X 光 CCD 所成图像进行处理,增强图像的高频信号,滤除噪声,使图像的边界更加明显,以取得裂纹大小和生长位置,判定被测物体的损伤程度和安全系数。

透射光栅谱仪的整体标定

提出了透射光栅谱仪整体标定的建议 ,并在北京同步辐射源上首次对 ICF实验中所用的透射光栅谱仪进行了整体标定 ,获得了与分别标定基本一致的结果。与分别标定相比 ,整体标定具有实验步骤少、实验数据处理简单。