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Al掺杂4H-SiC同质外延的缓冲层 被引量:1
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作者 贾仁需 张义门 +2 位作者 张玉明 王悦湖 栾苏珍 《固体电子学研究与进展》 CAS CSCD 北大核心 2009年第2期306-309,共4页
利用扫描电子显微镜(SEM)、X射线双晶衍射谱(XRD)和光致发光谱(PL)对在4H-SiC单晶衬底上采用CVD同质外延的4H-SiC单晶薄膜的特性进行研究,发现外延层有很好的晶格结构和完整性。由于Al原位掺杂引起的晶格失配和衬底和外延的晶向偏离,在... 利用扫描电子显微镜(SEM)、X射线双晶衍射谱(XRD)和光致发光谱(PL)对在4H-SiC单晶衬底上采用CVD同质外延的4H-SiC单晶薄膜的特性进行研究,发现外延层有很好的晶格结构和完整性。由于Al原位掺杂引起的晶格失配和衬底和外延的晶向偏离,在样品的衬底和外延的界面出现了约1μm的缓冲层,使得XRD摇摆曲线距主峰左侧约41arcs出现了强衍射峰。缓冲层中存在大量的堆垛缺陷和位错,引入缺陷能级,使室温PL测试为"绿带"发光。通过PL全片扫描发现缓冲层在整个样品中普遍存在且分布均匀。 展开更多
关键词 4H碳化硅同质外延 缓冲层 扫描电子显微镜 x射线双晶衍射谱 光致发光
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Metalorganic Chemical Vapor Deposition of GaNAs Alloy Using Dimethylhydrazine as Nitrogen Precursor
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作者 韦欣 马骁宇 +3 位作者 王国宏 张广泽 朱晓鹏 陈良惠 《Journal of Semiconductors》 EI CAS CSCD 北大核心 2002年第6期562-570,共9页
GaNAs alloy is grown by metalorganic chemical vapor deposition (MOCVD) using dimethylhydrazine (DMHy) as the nitrogen precursor.High resolution X ray diffraction (HRXRD) and secondary ion mass spectro metry (SIMS... GaNAs alloy is grown by metalorganic chemical vapor deposition (MOCVD) using dimethylhydrazine (DMHy) as the nitrogen precursor.High resolution X ray diffraction (HRXRD) and secondary ion mass spectro metry (SIMS) are combined in determining the nitrogen contents in the samples.Room temperature photoluminescence (RTPL) measurement is also used in characterizing.The influence of different Ga precursors on GaNAs quality is investigated.Samples grown with triethylgallium (TEGa) have better qualities and less impurity contamination than those with trimethylgallium (TMGa).Nitrogen content of 5 688% is achieved with TEGa.The peak wavelength in RTPL measurement is measured to be 1278 5nm. 展开更多
关键词 GaNAs MOCVD IMPURITY contamination HRxRD SIMS
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