软X射线发射光谱法研究过渡金属硅化物的价电子能带结构

用软 X射线发射光谱法对 Mn Si、Mn Si1.7这两种组成的过渡金属锰硅化物的价电子能带构造进行了研究 .首先在硅表面上形成了 Mn Si、Mn Si1.7单一相薄膜 ,并用 X射线衍射谱得到证实 .然后测量了这两种锰硅化物的软 X射线发射光谱 Si- Kβ发射光谱和 Si- L2 ,3发射光谱 ,Si- Kβ发射光谱反映的是硅化物的价电子能带的 Si- p部分电子态密度 ,而 Si- L2 ,3发射光谱反映的是硅化物的价电子能带的 Si- s,d部分电子态密度 .Mn Si、Mn Si1.7的 Si- L2 ,3发射光谱具有不同的形状 .这些不同形状的原因 ,对比着这两种硅化物的晶体结构和价电子的能带结构进行了分析与讨论 .

XRF–ICP–AES法测定土壤中的主次元素

建立x射线荧光光谱-电感耦合等离子体原子发射光谱法测定土壤中主次元素含量的方法。采用混合熔剂Li2B4O7-LiBO2（质量比为67：33）与试样在高温中熔融制得玻璃熔片，以x荧光法分析土壤样品中主元素（Al，Si，Fe，S，Mn，P，Ti）；采用混合酸消解玻璃熔片，以电感耦合等离子体原子发射光谱法分析土壤样品中次元素（Cd，Cr，Cu，Ni，Pb，Na，K，Ca，Mg，Co）。在选定的条件下，各元素的线性相关系数大于0．9993，方法检出限为0．5～100μg／g，重复测定结果的相对标准偏差均小于5％（n=9）。采用该法对土壤标准物质样品进行测定，测定结果与标准值一致。该方法操作简便、测定结果准确可靠，适用于土壤样品中主次元素的测定。

X射线发射光谱测定法的发展趋势简介

本文简要介绍在Ｘ射线发射光谱测定法（ＸＲＳ）中的实验设备、研究方向和定量分析方法等的当前趋势．尽管ＸＲＳ是核技术应用的一个老的领域，但在各种形式的ＸＲＳ中，当前的进步是引人注目的．现在，ＸＲＳ是强有力的可实现的用于样品日常分析和物质精细结构研究的分析技术．