X射线能谱微区分析中出射角对X射线强度的影响

利用SEM-EDS研究了硅衬底上Au、Cu薄膜发射的不同线系特征X射线相对强度间比值随出射角的变化规律,探讨了影响其变化的原因。结果显示:随着出射角变大,同一元素不同线系X射线相对强度间比值具有一定变化规律。低能量谱线的强度相对高能量谱线逐渐变大,这种变化主要是受X射线被基体吸收效应的影响所致。在低角度下,特别是在特征X射线全反射临界角附近,实际测得的低能量特征谱线的相对强度比预期要小,这是因为这些低能量谱线的波长较长,相对于这些谱线的全反射临界角较大,由膜内产生的低能量谱线,探测器无法探测到而引起。此项研究为X射线薄膜微区分析的定量计算提供依据。

多元组份薄膜的特征X射线强度的蒙特卡罗模拟计算方法

作者提出了入射电子在多元组份薄膜中所激发出的薄膜中各种元素的包括初次X射线和二次荧光在内的特征X射线强度的蒙特卡罗模拟计算方法。用这一方法模拟计算了多个薄膜样品的特征X射线强度比 ,得到了与电子探针显微分析仪器测定的实验数据相一致的模拟结果。

射线照相检验中X射线强度衰减的数值分析

应用Kulenkampff的射线强度经验公式,对工业射线照相检测中的X射线连续谱强度及衰减特性提出了一种理论近似算法。以钢材为例,应用Newton-Cotes梯形数值计算方法,结合Matlab软件模拟计算,得到了不同能量的X射线的相对强度随材料厚度变化的吸收曲线,以及平均衰减系数、半值层及其变化曲线,并与射线强度衰减理论相符。通过在T=0时与解析计算结果比较,该计算方法偏差<3%,能满足射线检测技术的需要。研究结果表明,所采用的近似算法具有普适性和实用性,在射线照相检测过程中可以对各种材料的X射线衰减特性进行有效的理论分析。

X射线极光强度与亚暴指数AE的相关关系

研究了Polar卫星的极区电离层X射线成像仪(PIXIE)得到的极光X射线成像强度AI(AuroralIntensity)与磁层亚暴指数的相关关系.本文发现,在所选取的1997年至2001年的部分数据中,从完整的X射线图像得到的极光X射线总强度和AE指数有很好的线性相关关系,在全部83组数据中有56.6%的数据的线性相关系数都在0.60以上(相关系数最大为0.97).所以本文认为极光X射线总强度可以作为新的磁层亚暴卫星实时监测指数.

用X射线衍射强度测定纳米金刚石的德拜特征温度和熔点

采用陆学善、梁敬魁提出的方法 ,利用纳米金刚石的X射线衍射强度 ,计算出它的德拜特征温度为 41 1 .7K ,比高温高压合成出的大颗粒金刚石单晶的德拜特征温度 ( 2 2 0 0K)低了许多 ;且其原子晶格振动的振幅比高温高压合成得到的大颗粒金刚石单晶原子的振幅增大了 4.37倍 ;用Lindemann公式计算出纳米金刚石的熔点为 2 0 70K ,约为高温高压合成出的大颗粒金刚石单晶熔点 ( 4 40 0K)的一半。这将导致纳米金刚石原子间结合力的减弱 ,势必造成其活性的增大 ,从而引起物理。

低强度X射线影像系统的噪声分析及图像去噪处理

新型低强度X射线影像系统主要是由平板式单近贴静电聚焦X射线像增强器和CCD数据采集系统构成。根据系统的组成,分析了图像噪声来源,指出了它们的噪声整体为泊松分布规律的随机白噪声,局部也有正负脉冲干扰等特点,以此提出了处理该图像噪声的"多帧平均滤波+极值中值滤波"的复合算法。即先根据随机噪声互不相关的特点,将多幅图像叠加平均,突出有用信息,压缩噪声。再在改进标准中值滤波基础上,采用极值中值滤波,更好地去除噪声,保留细节。通过对峰值信噪比的计算表明,该方法明显优于任何单一算法,取得较好效果。

CsI/MCP X射线阴极及其在低强度X射线影像仪中的应用

报道了X射线阴极的光电发射原理,给出CsI/MCP X射线阴极的制作方法。分析了反射式和透射式X射线阴极的量子效率和噪声特点,提出了改进工艺,给出CsI/MCP的输出特性和扫描电镜正面和剖面照片,且指出L ixiscope的发展以及在生物医学中的应用前景。

掠发射X射线荧光强度的实验研究

文章探讨掠发射 X射线荧光强度与 X射线管阳极高压的关系。依据实验结果 ,掠发射 X射线荧光强度随 X射线管阳极高压的增大而增加 ,因此采用高的 X射线管阳极高压 ,有利于减小 X射线荧光的测量时间 ,提高掠发射

粉末多晶X射线衍射积分强度公式的研究

分析了粉末多晶X衍射积分强度公式常见推导方式中存在的问题 ,即近似条件不明确 ,物理图象欠清楚。采用本文总结的正空间———倒空间———正空间分段分析方法 ,提出了一个物理图象清晰的新的推导方式 。

电瓷胎体中石英和方石英的热膨胀和X射线衍射强度之间的关系分析

通过测定高强度绝缘子的热膨胀和X射线衍射强度进行试验。使用散点图和多重线性回归分析从统计上对电瓷胎体中石英和方石英的X射线衍射强度与在 6 5 0℃和 2 5 0℃时它们的热膨胀值之间的关系进行了分析。

X射线成像光斑检测装置研制

设计了一种低成本,快速响应的X射线光斑检测装置,可用于解决系统结构偏差所引起的透视探测器接收位置处的光斑偏离。该装置通过检测关键点处的X光斑强度及分布情况以判断实际X光斑位置与理论设计的偏差,以此为依据进行多次调整可使系统光斑调节到一合理位置。

冠心病介入诊治中患者的X射线辐射评估

为探讨在对冠心病进行经皮冠状动脉动脉介入诊治过程中患者所受X线辐射的强度。对 112例冠心病患者 (5 3例冠状动脉左心室造影和 5 9例冠状动脉内支架植入治疗 )采用随DSA机配置的穿透电离室型剂量监测系统 ,测得剂量面积乘积和皮肤入射剂量 ,用Monte Carlo转换系数从剂量面积乘积估算有效剂量。 112例患者进行经皮冠状动脉动脉介入诊治过程中的剂量面积乘积、皮肤入射剂量和有效剂量均值分别为 5 9.1± 5 1.5Gycm2 、6 2 6± 5 90mGy和 8.3± 7.2mSv;其中冠状动脉内支架植入治疗过程中的剂量值分别为 83.5± 5 7.6Gycm2 、92 6± 6 5 6mGy和 11.7± 8.1mSv ,冠状动脉左心室造影过程中的剂量值分别为 31.9± 2 1.5Gycm2 、2 92± 2 18mGy和 4 .5± 3.0mSv ,两组间各剂量值都有非常显著性差异 (P <0 .0 1)。冠状动脉内支架植入治疗组透视剂量对总剂量的贡献 (剂量面积乘积为 6 1.6 %± 12 .9% ,皮肤入射剂量为 6 2 .1%± 14 .2 % )明显大于冠状动脉左心室造影组 (剂量面积乘积为4 7.8%± 13.9% ,皮肤入射剂量为 4 4 .2 %± 16 .1% ) ;而摄影剂量对总剂量的贡献 (剂量面积乘积为 38.5 %± 12 .9% ,皮肤入射剂量为 37.5 %± 13.6 % )明显小于冠状动脉左心室造影组 (剂量面积乘积为 5 2 .0 %± 13.7% ,皮肤?

薄膜特性的掠发射X射线荧光分析

掠射X射线荧光分析技术是实验室分析薄膜特性的一种重要工具。文章简述了利用掠出射X射线荧光技术分析薄膜厚度的原理和方法,介绍了一种可在实验室里实现薄膜特性测试的掠发射X射线荧光分析装置,该装置采用波长色散方式结合超薄窗流气正比计数管,可实现对轻元素的探测。最后从理论上计算了Si片上不同厚度的几种单层薄膜的X射线荧光强度和掠出射角的依赖关系。证明了掠发射X射线荧光分析是一种精确的分析薄膜厚度等特性的方法。

利用荧光X射线分析仪实现PTA装置催化剂质量浓度自动控制

PTA装置的氧化反应中所使用的催化剂价格昂贵。为降低生产成本,回收利用反应后溶剂中尚存的催化剂,可以利用荧光X射线在线分析仪对其质量浓度进行实时监测,及时获得准确数据,再通过自动控制系统补充新鲜催化剂,从而满足反应需要。重点说明荧光X射线在线催化剂分析仪的工作原理、组成及催化剂质量浓度自动控制系统组成。

X射线的产生及调节方法探析

X射线在医学诊断和治疗中应用非常广泛，特别是X射线诊断技术，已经成为现代医学不可缺少的工具。通过对X射线的产生机制和调节方法的探析，可以掌握X射线成像技术的基本原理，这对医学病理分析具有重要意义。

利用X射线荧光光谱法测定熔剂的主要成分

采用灼烧压片法，对熔剂中CaO、MgO和SiO2三个元素绘制了含量与X射线荧光强度之间的工作曲线，进行了灼烧试验，结果证明该方法完全可替代传统化学法，不仅大大缩短了分析时间，提高了工作效率，而且降低了工作强度。

非介入技术在X光机管电流测量中的应用研究

X光机广泛应用于放射诊断、放射治疗、工业探伤等相关领域,在保障公民身体健康和促进社会经济进步方面发挥着重要作用。X光机管电流作为控制X射线强度的重要参数,对射线输出质量、拍片清晰度等方面产生重要影响。在保证检测数据准确、检定过程简易的情况下,设计采用了基于非介入式的X光机管电流测量方法,测试结果表明该方法能准确测量X光机管电流。

耦合系数和束流强度对驻波加速器性能的影响和耦合系数的测量

根据加速器和微波谐振腔的基本理论,采用微波电路理论,分析和计算了驻波加速器输入波导和加速腔之间的耦合系数和束流强度对能量、束流功率、效率和X射线辐射强度等性能的影响。当耦合系数大于1时,随着耦合系数增加,加速器最大输出能量下降。随着加速器束流强度增加,加速器能量V_s降低。对于给定的束流强度,随着耦合系数增加,加速器输出能量、电子注束流功率和X射线的辐射强度存在最大值。为了使加速器获得最佳性能,确定和测量耦合系数十分重要。论文在大功率速调管输出电路的外观品质因子测试方法的基础上,针对不同耦合系数,推导出了驻波加速管的外观品质因子、固有品质因子与加速管输入端处的群延迟和驻波比的相互关系,建立了相应的测试方法。采用矢量网络分析仪,通过测量加速管输入端的群延迟和驻波比,可测得耦合系数等相关参数,该方法已在实验中获得了验证。