土壤中高岭石的X射线衍射全谱拟合定量分析方法研究

本文通过提纯高纯度石英、方解石、高岭石,配置了三种已知矿物成分含量的土壤模拟样品(高岭石、石英二相模拟土壤样品,高岭石、石英、方解石三相模拟土壤样品,高岭石、自然土壤混合样品),利用X射线衍射TOPAS全谱拟合定量分析方法对配制的9组高岭石、石英二相模拟土壤样品,9组高岭石、石英、方解石三相模拟土壤样品,9组高岭石、自然土壤混合样品三种系列覆盖4个矿物梯度的模拟土壤实验样品进行矿物定量分析,成功对比了其矿物理论含量与测试含量。通过对不含高岭石系土壤和含高岭石系土壤加标高岭石的方法,验证了X射线衍射全谱拟合定量分析法可以应用于土壤高岭石定量分析的稳定性与准确性。

X射线荧光方法在矿区环境地球化学研究中的应用

采用自行研制的高灵敏度能量色散X射线荧光分析仪分析了攀枝花矿区水系沉积物中微量元素的浓度,并根据分析结果研究了矿区元素分布的地球化学特征,本项研究的主要目的是探讨X射线荧光分析技术在矿区环境地球化学研究中的可行性,探索矿区环境地球化学研究的方法技术.结果表明,XRF方法可以有效分析沉积物中元素的含量,进而进行环境地球化学研究.

X射线荧光分析中的准绝对测量方法

基体效应校正是Ｘ射线荧先分析方法中关键的一环，在很大程度上决定了测量数据的准确度。本文提出了一种新的基体效应校正方法一准绝对测量方法。它兼有相对测量和绝对测量方法的特点，并具有较广泛的适用性。

X射线驻波方法研究半导体超薄异质外延层

利用双晶单色器和精密二圆衍射仪，在北京同步辐射装置建立了同步辐射X射线驻波实验技术，并用这一实验技术结合X射线衍射方法，研究了Si晶体中外延生长的起薄Ge原于层的微结构。实验结果表明，由于Ge原予的偏析，在Si晶体样品中形成了共格生长的GexSi1-x合金层，浓度平均值为x≈0.13；650℃退大会使Ge原予向表面扩散，Si晶体中的合金层消失，在晶体表面形成接近纯Ge的单原于层。

用X射线荧光方法测定薄层、镀层和涂层厚度

本文提出用特征Ｘ射线的发射和吸收来测定薄层或表面涂层的厚度。从理论上解决了最佳能量的选择问题，使薄层厚度测定的检出下限大幅度优化。并通过实践证明了方法的可靠性和实用性。

配电变压器线圈用材的X射线鉴别方法

通过均匀遮蔽物中铜和铝两种材料X射线衰减规律及配电变压器两种材料模拟线圈X射线衰减规律的试验,提出了配电变压器线圈用材料非解体鉴别的X射线方法,给出了用于X射线鉴别铜与铝两种材料的比对数据。

X射线分析方法的研究及其应用

X射线衍射分析技术是一种现代物理分析技术,已广泛应用于我国科学研究的各个领域,如医药分析、地质、土壤分析、生物、微生物检测、金属、无机非金属检测等,并发挥着不可替代的作用。X射线分析技术将在我国和世界上不同学科领域中发挥更大更新的作用。

X射线荧光分析方法在矿产品检测中的应用

在检测本钢选矿和外购矿产品的质量的过程中,通过对比传统的化学分析方法以及X射线荧光分析方法,我们发现后者的优势更大,其不仅便于操作,而且有极高的分析精度、极快的检测速度,在生产投入中所取得的效果极其显著。基于此,本文探讨了X射线荧光分析方法在矿产品检测中的应用,希望能够给相关的研究者提供一定借鉴。

基于X射线荧光光谱分析方法的钨矿检测研究

钨在各种岩石中的分布相对均匀,但含量一般较低,本文通过运用X射线荧光光谱分析方法来检测实验样品,结果表明钨矿检测运用X射线荧光光谱分析法能够提高检测准确性、精密度高。

X射线荧光光谱法用于CIGS薄膜太阳电池中吸收层的定量分析

介绍了X荧光薄膜分析法测试CIGS薄膜太阳电池中吸收层的4种元素的比例,并对其进行了分析和研究,此方法测量速度快,精确度高,对于制备高效率的CIGS太阳电池具有重要的指导意义。

复合片的XPS和X射线衍射分析

用XPS技术和X射线衍射方法检测了复合片中各个元素的结合能与晶体结构的变化，讨论了复合片与质量有关的问题。

X射线荧光光谱测定硅铝钡合金中的主要元素

采用X射线荧光光谱分析仪检测硅铝钡合金中的Si、Al、Ba元素。将硅铝钡合金制备成玻璃熔融样片,通过优化硅铝钡样品的制样方法、X荧光光谱仪的测量基础条件和干扰因子的校正,可以有效地消除样品基体效应和矿物效应,得到与湿法化学值一致的测量结果,提高了样品的分析速度,且准确度能够满足生产检验要求。

以小波域为基础的锅炉压力容器压力管道裂纹X射线检测方法研究

锅炉压力容器压力管道运行时,很容易受到高温、材质、时间等多方面因素的影响而出现裂纹问题,影响压力管道的性能,从而对整个锅炉设备安全、稳定的运行造成干扰。基于此,本文以小波域技术为核心,提出了一种锅炉压力管道裂缝X射线检测方法,并通过试验测试的方式,对该方法的应用效果进行验证。通过试验测试可以发现,本方法可以获得更多裂纹信息,使数字图像更加清晰,从而为裂纹问题的修复提供支持。

转炉化渣剂X-荧光光谱分析法的试验研究

本文介绍了应用x一射线荧光光谱法测定炼钢原辅料化渣剂中TFe、CaO、S、MnO、Al2O2、CaF2等元素含量的方法。化渣剂试样经破碎机、磨样机破碎研至200目粉末样，以硼酸作衬底，将粉末试样制成片状，用x-射线荧光光谱仪测定元素含量。试验证明，采用本方法分析周期短，数据准确可靠，能提高炼钢原辅料化渣剂检验效率，避免由于化学分析产生的气体和液体污染物对环境的污染。

论食品中重金属元素检测方法研究进展

为解决当前阶段食品重金属元素检测工作中存在的问题,本文对常见重金属元素检测方法要点进行研究,提出原子荧光光谱检测方法、X射线荧光光谱检测方法应用要点,以期为相关人员提供参考。

回归时间对Al-9.74%Li合金析出δ′相的影响

采用X射线方法研究回归时间对Al-9.74%Li合金经回归再回火处理析出δ′相的影响.结果表明,由于δ′相粒子的溶解导致样品硬度在短期回归时间内明显下降;并随回归时间的延长引起δ′相粒子的再析出及粗化,从而使样品硬度出现一个较弱的峰值,然后继续单调下降.

C12A7-MgO催化剂上的生物油裂解制氢

Catalytic steam reforming of condensable vapors, i.e. bio-oil, derived from pyrolysis of biomass is an important process for hydrogen production, which is expected to form renewable and clean energy. The generation of hydrogen from bio-oil was investigated from 250 to 750 ℃ by a MgO mixed C12A7-O^-(C12A7-MgO) catalyst in a fixed-bed micro-reactor. The hydrogen yield on C12A7-MgO was about 44% at 750 ℃. It is found that both the catalytic activity and catalysis life are improved by doping MgO. The XRD results show that the C12A7 structure of the positively charged lattice framework remains in the C12A7-MgO catalyst.

亚表面杂质对熔石英激光损伤的影响

采用HF酸对熔石英材料刻蚀不同的时间,利用同步辐射X射线荧光成像方法(SXRF)研究熔石英材料亚表面区域的杂质种类和相对含量,利用AFM和白光干涉仪研究刻蚀区域表面形貌和表面粗糙度,并采用R:1方式测试激光损伤阈值。实验结果表明,熔石英亚表面的杂质主要包括Fe、Cu、Ce,其相对含量随刻蚀时间的增加而降低。在刻蚀时间小于30 min时,损伤阈值明显提升;继续增加刻蚀时间,阈值降低。当刻蚀时间较短时,Cu、Ce等杂质含量对损伤阈值影响较大。刻蚀时间过长时,元件表面粗糙度成为影响损伤阈值的主要因素。

有机-无机杂化配位聚合物{[C_(12)H_(28)N_2][(Pb_3I_8)(DMF)_2]·2DMF}_n的晶体及电子结构

合成了一种新颖有机-无机杂化配位聚合物{[C12H28N2][(Pb3I8)(DMF)2]·2DMF}n,并进行了红外、紫外、热重表征,采用X射线衍射方法确定了晶体结构.结构解析表明,整个分子由阳离子(双质子化的N,N'-二丁基哌嗪)及聚阴离子链([(Pb3I8)(DMF)2]n2- )组成,它们之间由静电作用结合在一起形成一维链状配位聚合物.依据晶体结构数据,采用-Gaussian03程序对产物进行量子化学计算.