硅漂移探测器用于X射线标识谱与吸收实验

利用硅漂移探测器测量不同元素的标识X射线,验证莫塞莱定律,计算屏蔽系数并解释其变化规律.利用不同厚度的镍吸收片做铜的标识X射线吸收,结果表明:单色化铜的标识X射线所需镍片的最佳厚度约为20μm.

X射线标识谱实验中的镓-铜叠加峰的分解

介绍用剥谱的实验方法和Ｏｒｉｇｉｎ５．０中的双高斯峰拟合对Ｘ射线标识谱实验中的镓－铜叠加峰进行分解．

莫塞莱对元素的X射线标识谱规律的发现

简述了莫塞莱生平,回顾了莫塞莱通过测量不同金属发出的X射线的波长,发现原子序数和辐射频率的关系,并指出原子序数才是原子最本质的属性.他的杰出贡献在原子物理学的发展史上产生了深刻影响.