扫描电镜/X射线能谱仪/X射线波谱仪组合检测射击残留物

在司法物证检验中,通常采用扫描电镜/X射线能谱仪自动检测枪击案件中的射击残留物。但在检出的可疑颗粒物中,经常遇到硫(S)、锑(Sb)元素含量偏低的情况,用X射线能谱仪很难认定该颗粒物就是射击残留物。本文采用了扫描电镜/X射线能谱仪/X射线波谱仪组合方法,能检测出射击残留物中的S和Sb元素,弥补了X射线能谱仪的不足。这种组合形式,能够在微量物证检验工作中发挥很好的作用。

Fe的价态分析及其应用

利用扫描了电子显微镜（SEM）和X射线波谱仪（WDX）研究了Fe及其氧化物的I_(Lm)/I_(Km)和 I_(Lm)/I_(Lβ)谱线强度比的价态效应,观察到谱线强度比按一定规律随价态而变化。利用价态效应分析了45钢摩擦表面的磨屑产物,通过分析可以判断磨损类型。

X射线能谱仪/波谱仪校准用纯锰片锰元素含量标准物质研制

研制了一种X射线能谱仪/波谱仪(EDS/WDS)校准用纯锰片锰元素含量标准物质,使用电子探针(EPMA)检验了纯锰片锰元素含量的均匀性和稳定性,采用电感耦合等离子体发射光谱仪(ICP-OES)和电感耦合等离子体质谱仪(ICP-MS)对标准物质锰元素含量(质量分数,%)进行了定值,评定了标准物质的不确定度。研究表明:纯锰片标准物质锰元素含量的均匀性、稳定性良好,锰元素含量标准值为99.48%,扩展不确定度为0.92%(k=2)。研制的EDS/WDS校准用纯锰片锰元素含量标准物质可满足EDS/WDS的校准需求,为我国科研界和产业界的锰元素分析提供技术支撑。

铝铜薄膜铜元素含量标准物质研究

研制了一种X射线能谱仪/波谱仪校准用铝铜薄膜铜元素含量标准物质,使用电子探针对研制的铝铜薄膜铜元素含量标准物质进行均匀性、稳定性检验,使用电感耦合等离子体发射光谱仪(ICP-OES)对标准物质的铜元素含量(wt%)进行了定值,分析了名义值为49.5%的铝铜薄膜标准物质铜元素含量的不确定度来源,评定了标准物质的不确定度。研究结果表明:标准物质样品具有良好的均匀性和稳定性,标准物质的铜元素含量标准值为49.46 wt%,扩展不确定度为0.98 wt%(k=2)。研制的X射线能谱仪/波谱仪校准用铝铜薄膜铜元素含量标准物质,满足了X射线能谱仪/波谱仪定量分析过程中的校准需求,填补了X射线能谱仪/波谱仪校准用标准物质的国内空白,为我国科研产业的铜元素含量定量分析提供了量值保障和技术支撑。