适合于应用实验的X射线激光探针

X射线激光实验研究的主要目的是进行相应的应用研究。由于具有波长短、脉冲短、亮度高、相干性好的优点，因此在很多领域有潜在的应用前景。在所有的应用中，利用X射线激光作为探针来诊断等离子体或其他介质材料方面的应用是最普遍的。一般来说，激光探针穿越等离子体或介质后，光束的强度、前进方向、光程都会发生变化。分别检测这些变化，就可以获得等离子体的电子密度或介质折射率的相关信息。这就需要对作为探针的X射线激光的输出特性有深入的了解，并且选择更合适的条件进行优化。采用场图测量的方法，即直接测量X射线激光的输出光束在某一位置处的截面光强分布，能够很好地提供关于X射线激光输出光束的全面的信息，对应用研究具有很好的参考和指导作用。

软X射线激光偏折法测量激光等离子体电子密度分布

利用脉宽约为 5 0ps的类镍 银 13 9nm软X射线激光作为探针 ,探测由脉宽 80ps的驱动激光打C8H8靶产生的等离子体在 1ns后的电子密度分布信息 ,获得了清晰的莫尔条纹图像 .对结果的处理 ,给出了峰值电子密度为 1 1× 10 2 1 cm- 3 。