三维残余应力及深度分布的X射线分析和计算

针对X射线法在测定铍等轻元素材料内部残余应力及其深度分布时的不足 ,研究了一种分析和计算轻元素材料内部全三维残余应力及其深度分布的新方法 ,提出了包括考虑平衡条件和表面边界条件的基于线弹性理论的一种模型方程 ,对分析和计算原理、实验装置和实验作了介绍 ,编制出相应的计算机数据处理程序 ,能够对轻元素材料表面及内部任何一点进行全三维残余应力分析和计算。文中最后用铍的实验数据对程序进行了验证 ,结果表明 ,正应力分量σ11、σ2 2 随深度的变化较大 ,而切应力分量σ12 、σ13 和σ2 3 及正应力分量σ3 3

X射线残余应力的层析扫描测定

针对常规X射线残余应力测定法和美国X2 0 0 1应力仪测定方法存在的问题 ,提出了测定低原子序数材料内部三维应力的层析扫描方法 ,对装置和测定原理进行了讨论 ,设计出适合于层析扫描测定方法的计算机程序。根据提供的试验数据 ,能够对这类材料表面及内部任意一点进行全三维应力分析 ,计算应力及梯度和被测材料的晶面间距 ,并有一套计算的自我控制机制。