扫描电子显微镜X射线能量色散谱仪在宝玉石鉴定中的应用

介绍了在低真空模式下扫描电子显微镜配装X射线能量色散谱仪检测宝玉石的原理与方法。对比与评估了宝玉石样品的X射线能量色散谱仪的无标样定量分析数据与其标准数据,讨论了扫描电子显微镜配装X射线能量色散谱仪在宝玉石检测分析中存在的问题。通过与其它宝玉石检测分析仪器如X射线荧光分析仪、X射线粉末衍射仪、傅里叶变换红外光谱仪及激光拉曼光谱仪比较后认为,扫描电子显微镜配装X射线能量色散谱仪对宝玉石无损分析鉴定是最方便、有效的手段之一。

扫描电镜和X射线能量色散谱仪在涂层脱落现象分析中的应用

通过对某型ZM5铸造镁合金产品表面防热涂层脱落实际案例的分析,介绍了扫描电镜(SEM)和X射线能量色散谱仪(EDS)在该类现象分析中的应用方法。在该案例的分析中,首先使用SEM对涂层脱落界面分别进行低倍和高倍显微形貌观察,确定脱落界面的位置以及各区域的粘接情况。而后利用EDS对脱落界面的粘接异常位置与粘接正常位置的表面元素成分进行分析。最终确定脱落界面上粘接异常位置过高的硫元素含量是导致涂层脱落的原因,而硫源自镁合金氧化处理槽液中硫酸镁的残留。

EDS在涂层脱落界面含量异常的元素来源分析中的应用

为分析某ZM5铸造镁合金产品表面抗烧蚀涂层脱落界面中含量异常的硫元素的来源,使用X射线能量色散谱仪(EDS)分别对底漆、涂层、遮蔽物、氧化镁保护层、铸造镁合金基体等5种可能会造成脱落界面硫元素含量异常的来源进行检测。最终确定氧化镁保护层是真正来源。给出了解决此问题的建议。

含银敷料的表征和银的体外释放实验方法研究及其应用

目的:建立含银敷料的表征和银体外释放及鉴别释放液中纳米银和银离子的实验方法;探讨其在相关产品检测中的应用。方法:通过扫描电子显微镜(SEM)、X射线能量色散谱仪(EDS)、X射线光电子能谱仪(XPS)对含银敷料进行形貌及银颗粒价态分析表征;采用摇床法及往复支架法考察含银敷料在纯水和模拟体液(SBF)中的释放特性。通过体外细胞毒性研究,讨论材料表征与细胞毒性风险评价的相关性。结果:通过使用10 k D滤膜的超滤管实现了纳米银颗粒的有效分离,并通过调整释放液中氯离子/银离子的浓度比排除了SBF释放液中可能存在的氯化银颗粒物的干扰。利用所建立的规范性试验方法对实验所用的2种含银敷料进行了评价。其结果显示2种含银敷料均含纳米银,往复支架法体外释放试验显示含银烧烫伤贴24 h内在纯水和SBF中释放总银分别为5.24、12.41μg·cm-2,表明在SBF中的总银释放量高于纯水中释放量(约2倍);且SBF中银颗粒的释放比例略高于纯水中的释放比例。细胞毒性评价(MTT、LDH)的结果显示含银烧烫伤贴细胞毒性大于含银创伤贴,与总银释放量呈正相关。结论:本课题建立的含银敷料表征和银释放特性的实验方法,能够有效地判定敷料中是否含有纳米银及是否有纳米银颗粒的释放,为正确地对含银敷料进行风险评估及合理有效的监管提供科学依据。