粗制氧化锌的X射线衍射全谱图拟合定量相分析探讨

在本文中,使用Rietveld全光谱法通过X射线衍射测定粗氧化锌的主相和相对含量。对粗制氧化锌中的氧化锌相进行了快速,科学的定量分析,解决了精确识别固体废物的问题,获得氧化锌相含量的问题,为测试鉴定和控制进口粗氧化锌提供了分析方法和原始数据。Ri-etveld全谱图的定量相分析方法可以避免重叠峰的影响并校正衍射峰优选的取向,并且取向结果是稳健的。与化学分析和半定量XRF分析物相比,可以实现氧化锌物相含量的科学测定。它可以快速分析所有物相的含量,并可以补偿化学分析和半定量XRF分析方法。精确测定粗氧化锌中的氧化锌物相。

X射线衍射里特沃尔德全谱图拟合法与焦磷酸法测定锡冶炼粉尘中游离二氧化硅水平比较

目的探讨X射线衍射里特沃尔德(Rietveld)全谱图拟合法和焦磷酸法测定锡冶炼粉尘中游离二氧化硅(SiO2)水平的差异。方法应用X射线衍射Rietveld全谱图拟合法和焦磷酸法测定同一锡冶炼粉尘中游离SiO2水平,采用配对t检验对2种方法的检测结果进行比较分析。结果焦磷酸法的重现性测定相对标准偏差大于X射线衍射Rietveld全谱图拟合法;焦磷酸法测得的粉尘中游离SiO2水平高于X射线衍射Rietveld全谱图拟合法的测定结果(P<0.05)。结论焦磷酸法在测定含有较多难溶物质的锡冶炼粉尘中的游离SiO2时,可能会导致结果产生较大偏差,应辅以全谱图拟合法进行分析。

Rietveld法在半结晶聚酯二相共存结构分析中的应用

用Rietveld法对试样BaF2 的实测X射线衍射全谱图 (XDWP)数据进行精修 ,获得正确的结晶相结构参数 ,重点讨论了如何正确选择衍射峰型函数和评价精修结构参数的可靠性 ;特别指出 ,当把Rietveld法和Fourier过滤技术及径向分布函数 (radialdistributionfunction,RDF)联用来研究半结晶聚酯 (PET)的两相结构参数时 ,除需用R因子判断结晶相之精修结构参数的可靠性外 ,还要判断由非晶相散射强度数据计算的RDF是否合理 ;如果忽视后一判据 ,则有可能导致错误的计算结果。