电缆X射线辐射感应电导率引起的非线性效应

对电缆X射线辐照非线性响应进行了数值模拟。分析了电缆X射线辐照的物理过程,针对同轴电缆和屏蔽多导体电缆,建立了基于有限元方法的二维电缆模型诺顿等效电流源计算方法,着重描述了二维模型下电缆介质辐射感应电导率效应求解方法,模拟了电缆X射线辐照非线性效应,给出了诺顿等效电流源非线性响应规律,并依据物理过程进行了合理性分析。模拟结果显示,由于辐射感应电导率的存在,随着X射线注量的增加,电缆响应幅度会存在明显的饱和现象。对特定类型的电缆,响应电流随着X射线注量增加,依次出现3个时间位置不同的电流峰值。

不同辐照剂量率X射线对小鼠外周血细胞及免疫器官的影响

目的探讨不同辐照剂量率X射线对小鼠外周血细胞及免疫器官的影响。方法 120只小鼠随机分为正常对照组、低剂量率照射组和高剂量率照射组,每组40只,雌雄各半。分别于照射后24h、48h、96h、192h每组各取10只小鼠摘眼球取血用于测定红细胞计数(RBC)、白细胞计数(WBC)、血小板数(PLT)和血红蛋白(HGB)含量,然后处死小鼠取胸腺和脾脏称重,计算胸腺指数和脾脏指数。另取一部分做组织匀浆,测定匀浆中的超氧化物歧化酶(SOD)和丙二醛(MDA)含量。结果不同剂量率X射线照射均会造成小鼠外周血细胞中RBC、WBC、PLT和HGB的降低,高、低剂量率组间无显著差异。在相同取样时间,高、低剂量率组小鼠胸腺、脾脏指数与对照组比较均差异显著,高、低剂量率组间脾脏指数差异显著,在取样时间24 h,高、低剂量率组间胸腺指数差异显著。高、低剂量率组小鼠胸腺、脾脏组织匀浆中MDA的含量均升高,SOD含量均降低,且与对照组比较差异显著。高、低剂量率组小鼠胸腺组织匀浆中MDA的含量在取样时间48 h、96 h差异显著,SOD的含量在取样时间24 h、48 h、96 h差异显著;脾脏组织匀浆中MDA的含量在取样时间24 h、48h差异显著,SOD的含量在取样时间24 h、48 h、192 h差异显著。结论高、低剂量率辐照对小鼠外周血细胞数量的影响无显著差异;高剂量率辐照对小鼠脾脏指数的影响较低剂量率大,对胸腺指数的影响无显著差异;高剂量率辐照小鼠胸腺、脾脏组织中SOD和MDA的影响较低剂量率大。

用金刚石膜的X射线衍射谱估算其热导率

讨论直流电弧等离子体喷射化学气相沉积的金刚石膜其热导率和晶面取向间的关系。

高压下铁的电导率及X射线衍射研究

用四点电极法及磁控溅射结合光刻集成电极的方法,测量了铁在25 GPa压力下的电阻随压力的变化;用微区X射线衍射仪原位测量了铁在25 GPa压力下晶胞参数随压力的变化关系。实验结果表明,铁在13.7 GPa时发生相变,由体心立方相转变为六方密堆相,在18.1 GPa时相变结束。利用高压下铁的电阻数据,结合X射线衍射结果,推导出铁的电导率随压力的变化关系。

MOS器件的X射线辐照效应

研究了在10 keV X射线辐照情况下,MOS器件的阈值电压随总剂量和剂量率的改变而变化的趋势。实验结果表明,辐照后,与用Co60作为辐射源辐照所做实验结果明显不同的是,NMOS器件的阈值电压漂移幅度远大于PMOS器件的漂移幅度。文中对这种现象进行了讨论。

10keV X射线空间辐照总剂量试验可行性研究

传统辐照总剂量试验的辐射源均采用60Co,对环境危害较大。X射线作为辐射源具有安全、剂量率控制准确等优点,可进行硅片级的测试甚至在线测试,从而大大降低封装、测试、运输的成本,提高研发效率。从辐射机理和辐射对栅氧化层影响的角度深入地论证了用10keVX射线代替60Co作为总剂量试验辐射源的可行性。

屏蔽电缆X射线辐照响应的有限元求解

分析了X射线辐照电缆的物理过程,建立了基于有限元方法的二维诺顿等效电流源计算模型,将泊松方程、电场强度、电荷守恒方程等求解过程转换为矩阵和向量运算,并利用PETSc程序包编程计算,模拟了辐射感应电导率和间隙效应对屏蔽电缆X射线辐照响应的影响。结果显示,仅考虑辐射感应电导率效应时,随着X射线注量的增加,诺顿等效电流源逐渐趋于饱和,波形宽度变窄,并逐渐变为双极性波形。仅考虑间隙效应时,诺顿等效电流源幅度与间隙宽度近似成正比;间隙效应会大幅抵消辐射感应电导率效应的影响,诺顿等效电流源幅度仍近似正比于间隙宽度。该方法实现了电缆X射线辐照非线性效应的模拟,并将计算对象扩展到屏蔽多导体电缆。

一种估算热导率的方法

径向热导率是金刚石膜应用中的一项主要技术指标。本文介绍一种通过热导率和Ｘ衍射晶面图间相关性估算直流电弧等离子体喷气相沉积金刚石膜径向热导率的方法。该方法需满足的条件为（１１１）为主的三向系中（２２０）和（３１１）的ＣＰＳ值分别是２３～３３％和８～１５％，或者是在四取向膜中要求（４００）的ＣＰＳ值低于５％。瓮算值的最大偏差为－９．５％和３．５％。当（２２０）的ＣＰＳ值高时或（３１１）的ＣＰＳ值低时，

形状记忆环氧材料漏电流抑制技术及耐辐照性能提升方法

针对航天器空间可展开结构用形状记忆聚合物材料在空间辐照环境中电荷输运性能发生变化时易产生漏电流,从而造成结构器件劣化、击穿,甚至影响航天器正常运行的问题,从高分子三维网状结构设计角度出发,提出一种形状记忆聚合物辐照感应漏电流抑制方法,实现了形状记忆聚合物的性能提升,能够指导空间可展开结构材料的选型和设计。基于常用的双酚A环氧树脂材料,通过引入不同官能度和配比的固化剂调控其高分子三维网状结构,获得了具有不同热力学性能的形状记忆环氧材料。采用X射线辐照感应电导率在线测试系统,表征不同体系环氧材料在不同辐照功率下的漏电流演变情况。研究结果表明:相较于固化剂官能度为5的形状记忆环氧材料体系,固化剂官能度为6环氧材料体系的X射线辐照感应电导率随固化剂配比变化的幅度减小了约50%,即选择官能度相对较高的固化剂体系环氧材料,能够构建更加致密的高分子三维网状结构,可获得更加稳定的热力学和X射线辐照感应电导性能,更有利于抑制辐照感应漏电流,从而增强了空间展开结构X射线辐照防护效果。

等离子喷涂ZrO_2涂层显微结构表征和热导率分析(英文)

利用大气等离子喷涂制备了ZrO2涂层,采用扫描电子显微镜结合图像分析的方法对涂层的显微结构特征(总气孔率和大气率)进行了量化表征.同时利用扫描电子显微镜附带X射线扫描成像对涂层内部的微裂纹和大的分隔裂纹的三维分布进行了表征.据此建立了ZrO2涂层显微结构与热导率之间的关系.室温下,涂层N2的热导率较N1的低,因为涂层N2内气孔和微裂纹数较多;在1000℃,由于微裂纹的烧结作用导致热导率增大,所以涂层N2的热导率较N1反而高.高温下,涂层内由微裂纹汇聚而形成的大的分隔裂纹的存在则可以有效地抑制烧结,降低涂层的热导率.

热电材料Ag_(0.8)Pb_(18)SbTe_(20-x)Se_x的高压制备与性能

采用高压合成技术,制备了热电材料Ag0.8Pb18SbTe20-xSex(x=0,5,10,15)。研究了合成压力及Se含量对其结构和热电输运性质的影响。X射线衍射测试发现,Ag0.8Pb18SbTe20-xSex样品具有单相的NaCl结构,晶格常数随Se含量的增大而减小。室温下的测试结果表明,高压和置换Se对AgPb18SbTe20电学性质的影响作用相似,随合成压力及x的增大,Ag0.8 Pb18 SbTe20-x Sex的电阻率及赛贝克(Seebeck)系数降低。4 GPa高压合成的Ag0.8 Pb18SbTe20-xSex(x=10)样品具有较高的功率因子(18.90μW.cm-1.K-2),同时其热导率较低(1.35 W.m-1.K-1),室温下其最大的品质因子ZT值高达0.40。

水平温梯冷凝法生长ZnGeP_2单晶

采用高纯(6mol/L)Ge、Zn、P单质为原料,按化学计量比并富P 0.2%配料,通过双温区法合成ZnGeP2多晶粉料,再用水平温梯冷凝法(HGF)生长出尺寸达10mm×20mm×80mm的单晶棒。对单晶进行了X射线衍射、红外透过率、热导率等测试,测试结果表明;单晶完整性好,红外透过率较高;5mm厚晶片(未退火、镀膜)在2～8μm范围内平均透过率可达54%以上;在室温附近(297.34K)热导率为35.89W/(m.K)。

不同相结构和微观结构对氮化铝陶瓷性能的影响

本文重点研究了氮化铝陶瓷的相结构和微观结构对其性能的影响,分析了氮化铝陶瓷的热导率、抗折强度、体积密度之间的关系,结果表明随着陶瓷热导率的提高,陶瓷的抗折强度和体积密度呈现下降的趋势,体积密度接近理论密度。同时对不同热导率的氮化铝陶瓷样品,进行了X射线衍射(XRD)和扫描电镜测试分析,从XRD可以推断出随着热导率的变化,氮化铝陶瓷第二相的转化或者转变过程。利用图像分析软件Image-ProPlus进行电镜图片的第二相统计学分析,数据表明陶瓷的热导率与第二相含量之间存在一定的相关性。当陶瓷的热导率达到253W/m·K时,XRD仅能检测到氮化铝主相存在,微观统计可知第二相的含量仅为0.08%,并且第二相分布于三相晶界交汇处。