0.4mm像素X射线阵列探测器的设计

描述了一种像素大小为0.4mm的X射线阵列探测器系统的设计,探测器以闪烁陶瓷材料Gd2O2S:Tb耦合光电二极管阵列构成,可应用于几十到100keV的X射线数字辐射成像系统,可作为无损检测技术研究平台中的探测器系统。介绍了探测器的信号处理方法,给出了用该系统获取的实际图像。

X射线阵列探测器SSPA用的数据采集电路研究

研制了一种用于 X射线探测的阵列探测器 SSPA器件 ,进而研究了适用于该器件的数据采集电路。设计试验了此阵列探测器及其数据采集电路应用于 X射线计算机层析成像 (即 X- CT)的可行性。初步试验结果表明 :该 X射线的探测方法是可行的 ,这为工业 X- CT无损检测技术中实现对 X射线高分辨、高效率、低成本的探测与测量创造了条件。

400um像素X射线阵列探测器的设计

描述了由美国X-SCAN公司生产的400um像素大小的X射线阵列探测器系统的设计,此探测器系统集信号探测、模拟信号放大、数字信号处理与输出于一体,有多种控制功能可供选择,可方便地与计算机连接,实现图像或信号的数字化处理。可广泛的应用于各种无损检测领域。

X射线线阵列探测器数字图像的非均匀性原因分析

在论述X射线线阵列探测器辐射数字成像系统的基础上,对X射线线阵列探测器辐射数字成像系统获取的图像的非均匀性产生机理进行了理论分析,并在理论分析基础上从测量和校正的角度对各种非均匀性产生因素进行了分类,以便对图像的非均匀性校正的方法及减小图像非均匀性产生的技术途径。