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国产X射线衍射仪对金属变温测试的温度准确性验证 被引量:4
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作者 路大勇 程崴 +1 位作者 刘巧丽 曲明洋 《分析仪器》 CAS 2014年第3期13-16,共4页
选用熔点为183℃的锡铅焊料(Sn63/Pb37)作为标准试样,验证国产X射线衍射仪对金属进行变温XRD测量时的温度准确性。结果表明:变温样品室内热电偶的监控温度(To)与锡铅焊料样品表面的实际温度(Ta)的偏差小于5℃,直接证实所开发的变温样品... 选用熔点为183℃的锡铅焊料(Sn63/Pb37)作为标准试样,验证国产X射线衍射仪对金属进行变温XRD测量时的温度准确性。结果表明:变温样品室内热电偶的监控温度(To)与锡铅焊料样品表面的实际温度(Ta)的偏差小于5℃,直接证实所开发的变温样品室具有较高的温度准确性。 展开更多
关键词 x线衍射仪 变温样品室 锡铅焊料 变温金属xrd测量
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用X射线衍射仪测量普朗克常量 被引量:3
2
作者 王合英 孙文博 《物理实验》 2014年第10期4-7,共4页
讨论了用X射线衍射仪测量普朗克常量的误差来源和改进方法.由于仪器结构和所用透明单晶样品对谱线的展宽效应使不同电压对应的最短波长测量值减小,在计算普朗克常量时应对实验测量的各最短波长进行修正.结果表明用修正的最短波长拟合得... 讨论了用X射线衍射仪测量普朗克常量的误差来源和改进方法.由于仪器结构和所用透明单晶样品对谱线的展宽效应使不同电压对应的最短波长测量值减小,在计算普朗克常量时应对实验测量的各最短波长进行修正.结果表明用修正的最短波长拟合得到的普朗克常量与理论值基本一致. 展开更多
关键词 普朗克常量 x线衍射仪 线展宽
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X射线衍射仪校准方法的设计 被引量:1
3
作者 陈晓东 张玉敏 《分析仪器》 CAS 2022年第6期35-39,共5页
X射线衍射仪的校准是保证仪器准确测量的重要工作,但是仪器厂家并没有提供给用户详细校准方法。根据对仪器光学系统和工作原理的分析,设计了使用荧光板对X射线衍射仪进行校准的方法,并依据JJG 629-2014《多晶X射线衍射仪检定规程》对校... X射线衍射仪的校准是保证仪器准确测量的重要工作,但是仪器厂家并没有提供给用户详细校准方法。根据对仪器光学系统和工作原理的分析,设计了使用荧光板对X射线衍射仪进行校准的方法,并依据JJG 629-2014《多晶X射线衍射仪检定规程》对校准后的仪器进行了2θ角示值误差,2θ角分辨力和2θ角重复性检定。结果表明,该方法适合X射线衍射仪的校准工作。 展开更多
关键词 x线衍射仪(xrd) xrd校准方法 测角仪校准
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X射线衍射仪在岩石矿物学中的应用探讨
4
作者 李蕾 《中国化工贸易》 2011年第12期65-65,80,共2页
对由岩石与矿物等主要物质的组成的地壳进行结构分析、成分分析和性质分析,是岩石学理论和矿物学理论的研究重点。X射线衍射技术(尤其是粉晶X射线衍射技术)自从诞生开始变在岩石研究和矿物分析中获得了广泛应用,另外,在矿物的定量... 对由岩石与矿物等主要物质的组成的地壳进行结构分析、成分分析和性质分析,是岩石学理论和矿物学理论的研究重点。X射线衍射技术(尤其是粉晶X射线衍射技术)自从诞生开始变在岩石研究和矿物分析中获得了广泛应用,另外,在矿物的定量分析和定性分析中也有着大规模的应用。 展开更多
关键词 xrd(x线衍射仪) 岩石学 矿物学 应用
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小角度X射线衍射法研究夹层复合材料和长程有机大分子材料 被引量:1
5
作者 洪汉烈 周泳 汪艳 《分析仪器》 CAS 2005年第2期39-41,共3页
对具有大层间距的累托石-尼龙夹层复合材料和具有长周期有序排列的脂质材料等进行了小角度X射线衍射分析。结果表明,通过调整X射线衍射仪的光路系统,适当控制入射X射线和散射线的强度,即使在极小的角度区域范围内,仍可清晰地分辨X射线... 对具有大层间距的累托石-尼龙夹层复合材料和具有长周期有序排列的脂质材料等进行了小角度X射线衍射分析。结果表明,通过调整X射线衍射仪的光路系统,适当控制入射X射线和散射线的强度,即使在极小的角度区域范围内,仍可清晰地分辨X射线衍射峰。对于日本理学D Max -rB型转靶X射线衍射仪,使用如下的光路系统:DS =1 2°,SS =1 6°,RS =0 .15mm ,可获得清晰结果。 展开更多
关键词 夹层复合材料 x线衍射 小角度 分子材料 x线衍射仪 x线衍射分析 有机 光路系统 有序排列 区域范围 长周期 累托石 层间距 散射线 衍射 Max 清晰 入射
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逆向拟合法量化测定X线与物质相互作用后的强度变化规律
6
作者 刘一蓉 刘金源 +1 位作者 牛香玉 秦瑞平 《中国医学物理学杂志》 CSCD 2018年第3期296-302,共7页
目的:使用X线衍射仪、自制载物台逆向拟合法量化分析X射线与不同物质相互作用后的强度变化规律及影响因素。方法:实验使用逆向拟合法验证朗伯比尔定律,列举可能影响穿过物质层后的X射线强度的若干因素(管电压、管电流、距离、物质原子... 目的:使用X线衍射仪、自制载物台逆向拟合法量化分析X射线与不同物质相互作用后的强度变化规律及影响因素。方法:实验使用逆向拟合法验证朗伯比尔定律,列举可能影响穿过物质层后的X射线强度的若干因素(管电压、管电流、距离、物质原子序数和物质层厚度等),设计多组实验样本,通过各组对各种因素的实验验证,逆向说明影响因素与穿过物质层后X射线强度的关系。结果:在实验设备有效量程范围内,管电流、物质层厚度和原子序数与穿过物质层的X射线强度呈线性关系;而管电压和X射线发射器与接收器间的距离与穿过物质层的X射线强度呈非线性关系,即当管电压发生线性变化时,穿过物质层后的X射线强度在10~25 kV范围内的管电压下缓慢增加,在25~35 kV范围内时X射线强度迅速增大,X射线强度∝kV2;当X射线发射器与接收器间距离发生线性变化时,穿过物质层的X射线强度在9.00~13.00cm距离范围内变化显著,而在13.00~17.00 cm距离范围内变化不明显,X射线强度∝1/r2。通过以上关系验证了朗伯比尔定律及其普适性,并探讨利用模拟人进行深入实验验证。结论:该方法简单直观,可快速测定X射线与不同物质相互作用后的强度变化规律,验证相关影响因素,可用于相关医学物理实验教学。 展开更多
关键词 x线强度 衰减 逆向拟合法 实验教学 x线衍射仪
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MoS2_纳米线的制备和显微分析 被引量:6
7
作者 许献云 《安徽化工》 CAS 2005年第3期39-40,共2页
采用水热路线合成MoS2纳米线,长度和直径分别为300 ̄640nm和20 ̄40nm。产物用X射线衍射仪,透射电子显微镜和高分辨透射电子显微镜进行表征,实验结果显示制备的MoS2纳米线是由几个具有线形的MoS2纳米晶体组成。
关键词 MOS2 纳米线 显微分析 制备 高分辨透射电子显微镜 x线衍射仪 体组成 纳米晶
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Structure of the organic crystallite unit in coal as determined by X-ray diffraction 被引量:14
8
作者 Song Dangyu Yang Cunbei +2 位作者 Zhang Xiaokui Su Xianbo Zhang Xiaodong 《Mining Science and Technology》 EI CAS 2011年第5期667-671,共5页
X-ray diffraction (XRD) was used to study the structure of the organic crystallite unit (La, Lo doo2) in coals collected from Henan and Shanxi Provinces. XRD patterns of coal were collected in a step-scan mode (0... X-ray diffraction (XRD) was used to study the structure of the organic crystallite unit (La, Lo doo2) in coals collected from Henan and Shanxi Provinces. XRD patterns of coal were collected in a step-scan mode (0.1 °/step) over an angular range of 2-90° (20), allowing 8 s at each step. The structure of the crystallite unit was determined from the Scherrer equation and peak parameters deduced from whole pattern fitting. The results show that the structure of the crystallite unit in coal is mainly controlled by the coal rank. As the coal rank increases the average diameter of a coal crystallite unit (La) increases, the interlayer spacing (doo2) decreases slightly, and the average height of a coal crystallite unit (Lc) increases at first but then decreases. A new diffraction peak from the crystallite unit in coal was found at a low scattering angle in the XRD pattern (2-10~). This suggests a structure with an inter-layer spacing from 1.9 to 2.8 nm exists in coal crystallites. 展开更多
关键词 CoalCrystallitexrdWhole pattern fitting
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Quantification of Cement Content in Mortars Using the Background of X-Ray Diffraction Spectra
9
作者 Servando Chinchon-Paya Aguado A. Chinchon S. 《Journal of Civil Engineering and Architecture》 2011年第12期1134-1137,共4页
This study proposes a model to determine the content of cement in mortars using the background of X-ray diffraction (XRD) spectra taking advantage of the fact that fluorescence radiation for the Cu anticathode is di... This study proposes a model to determine the content of cement in mortars using the background of X-ray diffraction (XRD) spectra taking advantage of the fact that fluorescence radiation for the Cu anticathode is different in cement paste and aggregates, and also that cement paste and aggregates have different crystallinity degrees. The method has been tested for limestone mortars with five different types of cement: I52,5N/SR, CEMII/A-L32,5N, IIIA42,5N/SR, IVA(V)32,5N/SR y CAC. 展开更多
关键词 MORTAR x-ray diffraction cement content.
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退火对ZnO薄膜结构及缺陷的影响 被引量:3
10
作者 解群眺 毛世平 薛守迪 《压电与声光》 CSCD 北大核心 2011年第2期299-301,319,共4页
采用射频反应磁控溅射法在Si(111)基片上制备了高度c轴择优取向的ZnO薄膜,采用X线衍射(XRD)、X线光电子能谱(XPS)分析方法研究了退火对ZnO薄膜结构及缺陷的影响。结果表明,随着退火温度的上升,薄膜的择优取向及取向一致性更好,晶化程度... 采用射频反应磁控溅射法在Si(111)基片上制备了高度c轴择优取向的ZnO薄膜,采用X线衍射(XRD)、X线光电子能谱(XPS)分析方法研究了退火对ZnO薄膜结构及缺陷的影响。结果表明,随着退火温度的上升,薄膜的择优取向及取向一致性更好,晶化程度增高,晶粒尺寸变大。退火使更多的Zn间隙原子回到晶格位置,并弥补薄膜中氧的不足,且高温退火易引起氧的解析,三者相互作用使晶面间距随着退火温度的上升而逐渐变小,压应力变大,ZnO中的O含量逐渐减少,Zn/O的原子比逐渐接近于1。 展开更多
关键词 ZNO薄膜 退火温度 x线衍射(xrd) x线光电子能谱(xPS)
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硒化镉晶体生长及性能表征 被引量:3
11
作者 张颖武 李晖 程红娟 《压电与声光》 CAS CSCD 北大核心 2016年第3期427-429,共3页
硒化镉(CdSe)是一种性能优异的Ⅱ-Ⅵ族半导体材料。采用气相法生长出CdSe晶体材料,结合晶体生长动力学研究了CdSe单晶生长速率,并对其晶体结构和光学性能进行了表征。Raman测试表明生长的CdSe晶体为纤锌矿结构,属于极性材料。XRD测试表... 硒化镉(CdSe)是一种性能优异的Ⅱ-Ⅵ族半导体材料。采用气相法生长出CdSe晶体材料,结合晶体生长动力学研究了CdSe单晶生长速率,并对其晶体结构和光学性能进行了表征。Raman测试表明生长的CdSe晶体为纤锌矿结构,属于极性材料。XRD测试表明单晶生长面为(001)面,衍射峰的半高宽较小。光学性能测试表明,CdSe材料在近红外波段内具有较好的光学透过特性。 展开更多
关键词 硒化镉(CdSe) 晶体 拉曼(Raman) x线衍射(xrd)
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铝含量对铜镍电阻薄膜结构及电性能的影响 被引量:1
12
作者 董显平 吴建生 《航空材料学报》 EI CAS CSCD 2001年第2期34-38,共5页
采用磁控溅射法制备了铝含量分别为 0wt% ,10wt% ,2 0wt% ,30wt %的CuNi系电阻薄膜 ,应用透射电镜(TEM )、X光衍射仪 (XRD)分析薄膜在热处理前后的晶化行为 ,结合X光电子能谱仪 (XPS)分析了膜层表面结构组成。结果表明 ,当未加入铝元素... 采用磁控溅射法制备了铝含量分别为 0wt% ,10wt% ,2 0wt% ,30wt %的CuNi系电阻薄膜 ,应用透射电镜(TEM )、X光衍射仪 (XRD)分析薄膜在热处理前后的晶化行为 ,结合X光电子能谱仪 (XPS)分析了膜层表面结构组成。结果表明 ,当未加入铝元素时 ,溅射态CuNi薄膜析出孤岛状分布的CuNi晶化相 ;随着铝元素加入到一定量 ,CuNi薄膜将相继分解出链状分布的细小有序相 (Cu ,Ni) 9Al4 以及呈均匀连续状态的有序相 (Cu ,Ni)Al。经大气中退火处理 ,薄膜具有与溅射态相似的晶化相结构类型 ;未加入铝元素的退火态CuNi薄膜表面主要由疏松的氧化铜构成 ,而铝含量在 10wt%以上的CuNi薄膜表面主要由致密的三氧化二铝构成。随着薄膜中铝元素增多 ,CuNi薄膜电阻率呈下降趋势 ;铝含量为 10wt%~ 2 0wt %范围的CuNi薄膜具有最小的电阻温度系数值。随热处理温度提高 ,未含铝元素CuNi薄膜电阻率有增大倾向 ,电阻温度系数变化无一定规律 ;加至一定量铝元素的CuNi系薄膜电阻率随热处理温度的提高而减少 。 展开更多
关键词 铝含量 铜镍电阻薄膜 电性能 磁控溅射法 透射电镜 TEM x衍射仪 xrd 晶化行为 结构组成
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退火温度对ZnO/PZT薄膜结构及电阻率的影响
13
作者 谌青青 高扬 +4 位作者 杨涛 杨成韬 文忠 张彩虹 孟祥钦 《压电与声光》 CSCD 北大核心 2012年第2期262-264,共3页
采用射频反应磁控溅射法在Pb(Zr0.52Ti0.48)O3(PZT)/Pt/Ti/SiO2/Si基片上制备了ZnO薄膜,利用X线衍射仪(XRD)、原子力显微镜(AFM)、霍尔效应测试系统等对不同退火温度下制备薄膜的结构、形貌及电阻率等进行了分析表征。结果表明,退火温度... 采用射频反应磁控溅射法在Pb(Zr0.52Ti0.48)O3(PZT)/Pt/Ti/SiO2/Si基片上制备了ZnO薄膜,利用X线衍射仪(XRD)、原子力显微镜(AFM)、霍尔效应测试系统等对不同退火温度下制备薄膜的结构、形貌及电阻率等进行了分析表征。结果表明,退火温度600℃的ZnO薄膜(002)择优取向较好,晶粒大小均匀,表面平整致密。随着退火温度的增大,电阻率先下降后升高,600℃时ZnO薄膜电阻率达最小。 展开更多
关键词 ZNO薄膜 退火温度 x线衍射仪(xrd) 原子力显微镜(AFM)
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PLCT薄膜的结晶性能研究
14
作者 袁小武 于光龙 +1 位作者 朱建国 肖定全 《哈尔滨理工大学学报》 CAS 2002年第6期37-38,共2页
采用Sol-Gel法制备了(Pb_0.9-xLa_0.1Ca_x)Ti_0.975O_3(简写为PLCT100x)铁电薄膜.利用SiemensD5005型号X射线衍射仪分析了PLCT(x)薄膜的结晶特性,总结出全钙钛矿相的PLCT铁电薄膜的退火工艺.用AFM测试了PLCT(100x)薄膜的表面,发现用Sol-... 采用Sol-Gel法制备了(Pb_0.9-xLa_0.1Ca_x)Ti_0.975O_3(简写为PLCT100x)铁电薄膜.利用SiemensD5005型号X射线衍射仪分析了PLCT(x)薄膜的结晶特性,总结出全钙钛矿相的PLCT铁电薄膜的退火工艺.用AFM测试了PLCT(100x)薄膜的表面,发现用Sol-Gel方法制备的薄膜相当平整. 展开更多
关键词 结晶性能 PLCT 铁电薄膜 SOL-GEL xrd AFM x线衍射仪 制备
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防膨稳定剂的优选及矿场应用
15
作者 郭志华 许星 +2 位作者 刘玉忠 靳宝军 衣春霞 《油气地质与采收率》 CAS CSCD 2002年第1期79-82,共4页
粘土矿物的膨胀、破裂、分散、运移和堵塞是对高压低渗油藏储层伤害的主要因素之一。通过X射线衍射仪室内实验分析 ,对防膨稳定剂作了系统评价 ,对多种药剂进行了优选 ,克服了传统的防膨稳定剂离心法、膨胀仪法的一些弱点。通过河 14 6... 粘土矿物的膨胀、破裂、分散、运移和堵塞是对高压低渗油藏储层伤害的主要因素之一。通过X射线衍射仪室内实验分析 ,对防膨稳定剂作了系统评价 ,对多种药剂进行了优选 ,克服了传统的防膨稳定剂离心法、膨胀仪法的一些弱点。通过河 14 6断块岩心室内分析 ,筛选出了适合该地区的防膨稳定剂的配方。矿场应用于河 2 -斜 4井注采试验井组 ,自 1998年 4月至今 ,其日产油能力为 82t、采油速度达 3.0 %以上 ,稳产 3年 ,取得了明显的开发效果。 展开更多
关键词 低渗透油藏 防膨稳定剂 x线衍射仪 现河庄油田 采收率 矿场应用
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采用热丝化学气相沉积法制备SiCN薄膜的研究
16
作者 赵武 屈亚东 +2 位作者 张志勇 贠江妮 樊玎玎 《中南大学学报(自然科学版)》 EI CAS CSCD 北大核心 2010年第1期156-160,共5页
采用热丝化学气相沉积(HFCVD)系统,在单晶Si衬底上制备SiCN薄膜。所采用的源气体为高纯的SiH4,CH4和N2。用原子力显微镜(AFM)、X线衍射谱(XRD)和X线光电子能谱(XPS)对样品进行表征与分析。研究结果表明:SiCN薄膜表面由许多粒径不均匀、... 采用热丝化学气相沉积(HFCVD)系统,在单晶Si衬底上制备SiCN薄膜。所采用的源气体为高纯的SiH4,CH4和N2。用原子力显微镜(AFM)、X线衍射谱(XRD)和X线光电子能谱(XPS)对样品进行表征与分析。研究结果表明:SiCN薄膜表面由许多粒径不均匀、聚集紧密的SiCN颗粒组成;薄膜虽然已经晶化,但晶化并不充分,存在着微晶和非晶成分,通过Jade软件拟合计算出薄膜的结晶度为48.72%;SiCN薄膜不是SiC和Si3N4的简单混合,薄膜中Si,C和N这3种元素之间存在多种结合态,主要的化学结合状态为Si—N,Si—N—C,C—N,N=C和N—Si—C键,但是,没有观察到Si—C键,说明所制备的薄膜形成了复杂的网络结构。 展开更多
关键词 SiCN薄膜 热丝化学气相沉积法(HFCVD) 原子力显微镜(AFM) x线衍射谱(xrd) x线光电子能谱(xPS)
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温度对铈基材料的影响
17
作者 关星宇 唐安江 苗菁 《湖南有色金属》 CAS 2011年第2期43-44,52,共3页
利用柠檬酸-硝酸盐合成方法合成不同Zr(NO3)4、Sc(NO3)3含量掺杂的Ce(NO3)4纳米粉体,经过表示扫描量热法(DSC/TG)分析对比选出了固容相比较稳定的组分,再用X射线衍射仪(XRD)对这些组分的微观结构进行了表征,研究了温度对Zr(NO3)4、Sc(NO... 利用柠檬酸-硝酸盐合成方法合成不同Zr(NO3)4、Sc(NO3)3含量掺杂的Ce(NO3)4纳米粉体,经过表示扫描量热法(DSC/TG)分析对比选出了固容相比较稳定的组分,再用X射线衍射仪(XRD)对这些组分的微观结构进行了表征,研究了温度对Zr(NO3)4、Sc(NO3)3多掺杂产物晶粒影响,找到了形成稳定立方相时的最佳比例和温度。 展开更多
关键词 溶胶凝胶法 x线衍射仪(xrd) 萤石立方相 结晶度
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沉积温度对ZnO薄膜波导的PLD生长影响的实验研究
18
作者 邓海东 吴木生 +4 位作者 徐初东 罗志环 徐海涛 杨小红 叶志清 《江西科学》 2007年第2期128-131,共4页
采用PLD(脉冲激光沉积)技术在单晶硅(100)基片上制备出性能优良的ZnO薄膜,并通过XRD(X射线衍射仪)和SEM(扫描电镜)检测了其结晶情况,并分析了其沉积温度和结晶质量之间的相互关系,结果表明600℃时沉积的氧化锌薄膜材料的结晶性能最好。
关键词 脉冲激光沉积技术(PLD) x线衍射仪(xrd) 半高宽度(FWHM)
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退火温度对Mn-Co-Ni-O系NTC薄膜阻温特性的影响 被引量:2
19
作者 李章恒 杨传仁 +2 位作者 张继华 陈宏伟 赵强 《微纳电子技术》 CAS 北大核心 2012年第11期762-766,共5页
采用传统陶瓷工艺制作溅射靶材,通过射频磁控溅射法在Al2O3基片上制备了Mn-Co-Ni-O系NTC薄膜。利用X射线衍射仪(XRD)、原子力显微镜(AFM)对不同退火温度下制备的NTC薄膜的结构和形貌进行表征。经过蒸发电极、内电极图形化、淀积二氧化... 采用传统陶瓷工艺制作溅射靶材,通过射频磁控溅射法在Al2O3基片上制备了Mn-Co-Ni-O系NTC薄膜。利用X射线衍射仪(XRD)、原子力显微镜(AFM)对不同退火温度下制备的NTC薄膜的结构和形貌进行表征。经过蒸发电极、内电极图形化、淀积二氧化硅钝化层等工艺,将薄膜制成0805规格NTC热敏电阻器。利用高低温试验箱等测试系统对其性能进行测试,研究了退火温度对薄膜阻温特性的影响。结果表明,随着退火温度的升高,晶粒逐渐长大,当退火温度为950℃时,晶粒大小均匀,成相平整致密;材料常数B随着退火温度的升高而增大。 展开更多
关键词 负温度系数(NTC)热敏电阻 薄膜 射频磁控溅射 陶瓷靶材 退火温度 x线衍射仪(xrd) 原子力显微镜(AFM)
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